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聚合物表面分析 X射线光电子谱 XPS 和静态次级离子质谱 SSIMS 【数理化】
(英)D.布里格斯(D.Briggs)著;曹立礼,邓宗武译2001 年出版197 页ISBN:7502533974本书深入论述了X射线光电子谱(XPS)和静态次级离子质谱(SSIMS)及其在聚合物材料研究中的应用,内容包括聚合物表面的重要性,X射线光电子谱(XPS)等。 ...
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