- 作 者：刘丽，江月松著
- 出 版 社：北京：国防工业出版社
- 出版年份：2013
- ISBN：9787118088267
- 标注页数：238 页
- PDF页数：247 页
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第1章 综合孔径成像技术导论 1
1.1综合孔径成像技术概述 1
1.2综合孔径成像技术原理 3
1.2.1光学综合孔径成像原理 3
1.2.2被动毫米波综合孔径成像原理 7
1.3综合孔径成像技术发展现状 8
1.3.1光学综合孔径成像技术发展现状 8
1.3.2被动毫米波综合孔径成像技术发展现状 16
1.4综合孔径成像系统关键技术 20
1.4.1阵列优化和设计 20
1.4.2相位误差和校正 23
1.4.3图像重构和图像复原 24
第2章 综合孔径成像基础 26
2.1数学基础 26
2.1.1卷积和相关 26
2.1.2傅里叶变换 29
2.1.3线性系统分析 32
2.2物理基础 33
2.2.1非相干光学成像系统 33
2.2.2范西特—泽尼克定理 35
2.2.3被动辐射测量基础 39
第3章 光学综合孔径直接成像系统 45
3.1基本原理 46
3.1.1等效模型 46
3.1.2特征指标 50
3.2阵列优化和设计 58
3.2.1典型阵列结构 58
3.2.2多圆周阵列结构 66
3.2.3多圆周阵列的优化 68
3.3相位误差和校正 78
3.3.1光束合成误差分析 78
3.3.2冗余基线校正方法 93
3.3.3一维RSC阵列的优化 103
3.3.4圆周RSC阵列的优化 106
3.4图像复原 111
3.4.1经典图像复原法 112
3.4.2图像质量评价方法 117
3.4.3维纳滤波法在光学综合孔径中的应用 120
3.5实验研究 127
3.5.1模拟实验系统 127
3.5.2望远镜光阑实验 132
3.5.3冗余基线校正模板实验 134
3.5.4光学综合孔径遥感系统 138
3.6本章小结 140
第4章 被动毫米波综合孔径成像系统 141
4.1基本原理 141
4.1.1被动综合孔径干涉成像原理 141
4.1.2被动综合孔径光子成像原理 144
4.1.3光子成像系统主要性能分析 156
4.2阵列设计和优化 162
4.2.1引言 162
4.2.2优化基础 164
4.2.3优化准则 166
4.2.4优化算法 167
4.2.5优化结果 169
4.3相位误差和校正 183
4.3.1闭合相位校正 183
4.3.2载波干涉校正技术 185
4.3.3基于光子晶体的全息相位校正技术 186
4.4重构成像算法 188
4.4.1引言 188
4.4.2 Gridding算法 190
4.4.3 CLEAN算法 191
4.5实验研究 195
4.5.1基于光纤传输的二元干涉实验 195
4.5.2基于光纤传输的毫米波探测实验 207
4.6本章小结 213
第5章 综合孔径成像技术展望 214
5.1被动综合孔径宽带成像技术 214
5.2被动毫米波直接电光调制技术 215
5.3超分辨率处理与多光谱融合技术 216
5.4复合相位误差测量与校正技术 217
5.5多孔密瞳光学阵列 218
5.6压缩感知综合孔径成像技术 220
参考文献 221