- 作 者：北京地质学院矿物教研室编
- 出 版 社：北京：中国工业出版社
- 出版年份：1963
- ISBN：K15165·2522（地质224）
- 标注页数：209 页
- PDF页数：214 页
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目录 1
第一章 晶体构造的几何学 1
Ⅰ 空间格子 1
Ⅱ 晶格中面网、行列、结点的符号 5
Ⅲ 面网间距、行列中结点间距和晶胞体积计算公式 9
Ⅳ 晶体构造的对称 12
实习内容 25
Ⅰ X射线的本性 27
第二章 X射线物理学 27
Ⅱ X射线的产生 28
Ⅲ 连续X射线光谱和特征X射线光谱 28
Ⅳ X射线与物质的相互作用 33
Ⅴ 晶体的线型衰减系数的计算 40
Ⅵ X射线的检查和记录 41
实习内容 43
第三章 X射线在晶体中的衍射 49
Ⅰ 衍射的概念 49
Ⅱ 劳埃方程式 50
Ⅲ 吴里夫-布拉格方程式 54
Ⅳ 衍射线的强度 56
第四章 单晶X射线照相方法 62
Ⅰ 引言 62
Ⅱ 劳埃法 62
Ⅲ 旋转法 68
Ⅳ 回摆法 72
Ⅴ 华盛堡法 74
Ⅵ 空间格子类型与空间群的测定 76
Ⅶ 晶胞中“分子数”（Z）的计算 79
实习内容 80
第五章 多晶体的X射线方法——粉末法 82
Ⅰ 引言 82
Ⅱ 照相基本条件和方法 82
Ⅲ 照片上图相的解释 83
Ⅳ 底片的安装 85
Ⅴ 粉末照相机 86
Ⅵ 粉末法的用途 90
实习内容 91
第六章 X射线物相分析（一）——矿物鉴定 96
Ⅰ X射线鉴定矿物的原理 96
Ⅱ 衍射数据的获得 96
Ⅲ X射线鉴定矿物的方法 111
实习内容 122
Ⅰ X射线物相定量的原理 124
Ⅱ X射线物相定量的方法 124
第七章 X射线物相鉴定（二）——定量分析 124
Ⅲ 强度资料的收集 126
Ⅳ 用两相直接对比法定量的步骤 129
实习内容 131
第八章 粉末图指标化 133
Ⅰ 粉末图指标化的意义 133
Ⅱ 粉末图指标化的方法 133
Ⅲ 空间格子类型的确定 147
实习内容 148
Ⅰ 精确测定点阵参数的用途 149
第九章 点阵参数的精确测定 149
Ⅱ 精确测定点阵参数的原理 150
Ⅲ 粉末照相法的系统误差 152
Ⅳ 精确测定点阵参数的方法 156
Ⅴ 精确测定点阵参数的若干技术问题 166
实习内容 169
第十章 聚焦照相机与背射照相机 173
Ⅰ 聚焦照相机 173
Ⅱ 背射照相机 178
实习内容 180
附表一 sin2θ值 181
附表二 （h2＋k2＋l2），（h2＋k2）和（h2＋hk＋k2）的值 183
附表三 ？的值 188
附表四 θ—d转算表 190
附表五 按系统消光定空间群的表格 195
附表六 d尺 207
附表七 Bunn卡片 208