- 作 者：李玉晓总主编
- 出 版 社：郑州：郑州大学出版社
- 出版年份：2010
- ISBN：9787564500627
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1 误差理论与数据分析 1
1.1 物理实验中的测量误差 1
1.1.1 测量 1
1.1.2 测量误差的定义及表示法 1
1.1.3 误差的分类 3
1.2 概率理论与数理统计基础 5
1.2.1 随机事件和随机变量 5
1.2.2 概率和分布函数 5
1.2.3 随机变量的数字特征 7
1.2.4 几种常见的概率分布及特征量 8
1.3 随机误差的特征与处理方法 12
1.3.1 随机误差的分布 12
1.3.2 测量的标准偏差 16
1.3.3 测量不确定度 19
1.4 一元线性回归分析 21
1.4.1 最小二乘法原理 21
1.4.2 一元线性回归 24
2 原子与分子物理实验 29
2.0 绪言 29
2.1 密立根油滴实验 30
2.2 弗兰克—赫兹实验 35
2.3 氢（氘）原子光谱 39
2.4 钠原子光谱 43
2.5 光谱定性分析 55
2.6 激光喇曼光谱 60
2.7 塞曼效应 66
3 核物理实验 77
3.0 绪言 77
3.0.1 防辐射安全知识 77
3.0.2 常用的辐射量及其单位 79
3.0.3 核物理实验的一般实验方框图及常用仪器简介 80
3.1 盖革-米勒计数管的特性及放射性衰变的统计规律 82
3.2 符合法测定放射源绝对活度 90
3.3 γ能谱的测量 98
3.4 验证快速电子的动量与动能的相对论关系 103
3.5 穆斯堡尔效应 107
4 磁共振技术 115
4.0 绪言 115
4.1 核磁共振 115
4.2 光泵磁共振实验 121
4.3 微波铁磁共振 127
4.4 电子自旋共振实验 131
5 真空与薄膜技术 136
5.0 绪言 136
5.1 真空的获得与测量 137
5.2 真空镀膜与膜厚测量 141
5.3 直流溅射法制备金属薄膜及表面电阻率测量 146
6 材料结构分析技术 156
6.0 绪言 156
6.1 电子衍射实验 157
6.2 X射线衍射物相分析 165
6.3 椭圆偏振仪测量薄膜的厚度和折射率 172
6.4 扫描隧道显微镜 178
6.5 原子力显微镜 185
7 低温物性测量 189
7.0 绪言 189
7.0.1 低温的获得与测量 189
7.0.2 高温超导材料 192
7.1 高温超导体超导转变温度的测量 195
7.2 高温超导体磁悬浮力测量 206
7.3 高温超导体YBCO制备实验 209
7.4 变温霍尔效应实验 212
8 激光、全息技术与光学测量 222
8.0 绪言 222
8.1 激光器特性及其特性测量 223
8.2 电光调Q脉中YAG激光器 230
8.3 He-Ne激光器的模式测量 236
8.4 全息技术 248
8.5 声光效应与光拍法测光的速度 257
8.6 法拉第效应 262
8.7 单光子计数 267
8.8 WGX系列光纤通信实验 276
9 微波技术 287
9.0 绪言 287
9.1 微波基本参数的测量 288
9.2 用微波方法测量介质介电常数 301
10 声学实验 308
10.0 绪言 308
10.1 噪声测量与频谱分析 308
10.2 超声波探伤和声速测量 316
附录Ⅰ 中华人民共和国法定计量单位 324
附录Ⅱ 基本物理常量表 328