- 作 者：陆卫，傅英著
- 出 版 社：北京：科学出版社
- 出版年份：2014
- ISBN：9787030395665
- 标注页数：219 页
- PDF页数：231 页
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第1章 光谱的测量 1
1.1棱镜分光 2
1.2光栅分光 5
1.3傅里叶变换分光 9
1.4基于傅里叶变换光谱的调制光谱 13
1.5光谱测量技巧拾零 14
参考文献 17
第2章 半导体物理基础和光学特性 18
2.1半导体及其纳米结构 18
2.2包络函数及有效质量近似 27
2.3晶格振动和声子谱 33
2.4光电相互作用和半导体光谱 39
2.5有效介电常数和光谱分析 47
参考文献 56
第3章 透射光谱与反射光谱 58
3.1基本概念与原理 59
3.2薄膜样品的透射光谱与反射光谱 64
3.3晶格振动红外反射光谱Ⅰ——赝谐振子模型 69
3.4晶格振动红外反射光谱Ⅱ—— Kramers-Kronig关系 73
3.5赝谐振子模型与Kramers-Kronig关系综合应用 78
3.6薄膜材料的晶格振动与载流子特性表征 81
参考文献 86
第4章 光荧光光谱 88
4.1基本概念与原理 89
4.2带间荧光光谱 95
4.3低维材料的电子态和光跃迁 99
4.4量子线材料的荧光光谱 108
4.5量子点的荧光光谱 117
参考文献 120
第5章 调制光谱 122
5.1光调制光谱 125
5.2热调制光谱 133
5.3压电调制光谱 137
参考文献 142
第6章 量子阱红外探测器的光谱表征 144
6.1荧光光谱 148
6.2光调制反射谱 151
6.3量子阱结构厚度无损检测法 152
6.4光电导谱 155
6.5自由电子激光激发下的光电流 160
参考文献 168
第7章 数值方法与计算程序 171
7.1光谱分析中的全域最小值求解 171
7.2一维薛定谔方程的传输矩阵求解 175
7.3由实验远红外反射、透射光强求远红外反射率、透射率：IRRT 177
7.4赝谐振子模型拟合红外反射光谱：IRREFL 178
7.5 Kramers-Kronig光谱分析：KK 183
7.6光谱高斯-洛伦兹线形拟合：GLN 183
7.7调制反射光谱洛伦兹线形拟合：PRLOREN 186
7.8调制光谱高斯线形拟合：PRGAUSS 190
7.9荧光光谱拟合：PL 192
7.10考虑带尾态的荧光光谱拟合：TAILPL 196
7.11转移矩阵方法：WORK 199
参考文献 203
附录A 常用物理常量及换算公式 205
A.1幂次前缀符号 205
A.2能量表达变换 206
A.3原子单位、自然单位和量纲 206
附录B 常见半导体性质 208
汉英对照索引 210