- 作 者：陈雨青主编
- 出 版 社：北京：北京邮电大学出版社
- 出版年份：2018
- ISBN：9787563555390
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第一章 常用仪器仪表的使用 1
第一节 手持式数字万用表 1
第二节 UT802台式万用表 4
第三节 任意信号发生器 6
第四节 交流毫伏表 10
第五节 直流稳压电源 12
第六节 VC2002函数信号发生器的应用 14
第七节 示波器的简单应用 17
第二章 电路分析基础实验 23
实验一 常用仪器仪表的使用与测量误差的计算 23
实验二 电阻元件的伏安特性 25
实验三 基尔霍夫定律 28
实验四 叠加原理 30
实验五 电压源与电流源的外特性及其等效变换 32
实验六 戴维南定理及最大功率传输定理 36
实验七 一阶动态电路的响应 40
实验八 二阶动态电路的响应 43
实验九 R、L、C元件的阻抗特性 44
实验十 RLC串联谐振回路 48
实验十一 RC电路的频率特性 50
实验十二 二端口网络 53
第三章 模拟电子技术实验 57
实验一 晶体管共射极单管放大器 57
实验二 场效应管放大器 66
实验三 负反馈放大器 70
实验四 射极跟随器 74
实验五 差动放大器 79
实验六 集成运算放大器指标测试 83
实验七 集成运算放大器的基本应用（Ⅰ）——模拟运算电路 89
实验八 集成运算放大器的基本应用（Ⅱ）——有源滤波器 95
实验九 集成运算放大器的基本应用（Ⅲ）——电压比较器 100
实验十 低频功率放大器（Ⅰ）——OTL功率放大器 105
实验十一 低频功率放大器（Ⅱ）——集成功率放大器 109
实验十二 直流稳压电源（Ⅰ）——串联型晶体管稳压电源 113
实验十三 直流稳压电源（Ⅱ）——集成稳压器 119
实验十四 RC正弦波振荡器 122
第四章 数字电子技术实验 127
实验一 晶体管开关特性、限幅器与钳位器 127
实验二 TTL集成逻辑门的逻辑功能测试与应用 132
实验三 CMOS集成逻辑门的逻辑功能测试 137
实验四 集成逻辑电路的连接和驱动 141
实验五 组合逻辑电路的设计与测试（Ⅰ） 145
实验六 组合逻辑电路的设计与测试（Ⅱ） 148
实验七 译码器及其应用 150
实验八 数据选择器及其应用 156
实验九 触发器及其应用 163
实验十 计数器及其应用 171
实验十一 移位寄存器及其应用 176
实验十二 脉冲分配器及其应用 183
实验十三 使用门电路产生脉冲信号——自激多谐振荡器 187
实验十四 单稳态触发器与施密特触发器——脉冲延时与波形整形电路 191
实验十五 555时基电路及其应用 198
实验十六 D/A、A/D转换器 205
实验十七 智力竞赛抢答装置 211
实验十八 电子秒表 213
实验十九 三位半直流数字电压表 218
实验二十 数字频率计 224
实验二十一 拔河游戏机 231
附录Ⅰ 常见数字逻辑器件中文注解 237
附录Ⅱ 常用集成电路引脚图 246