- 作 者：电子工业部标准化研究所编
- 出 版 社：电子工业部标准化研究所
- 出版年份：1973
- ISBN：
- 标注页数：65 页
- PDF页数：70 页
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内容 1
1范围 1
2缺陷和不合格品分类 2
3不合格品率和每百单元缺陷数 2
4可接收质量水平（AQL） 3
5产品的提交 4
6合格和不合格 4
7样品的抽取 5
8正常、加严和放宽检查 5
9抽样方案 6
10批的合格与不合格的决定 7
11其它 8
表 10
表Ⅰ样品大小字码 10
表Ⅱ—A一次正常检查抽样方案（主表） 11
表Ⅱ—B一次加严检查抽样方案（主表） 12
表Ⅱ—C一次放宽检查抽样方案（主表） 13
表Ⅲ—A二次正常检查抽样方案（主表） 14
表Ⅲ—B二次加严检查抽样方案（主表） 15
表Ⅲ—C二次放宽检查抽样方案（主表） 16
表Ⅳ—A多次正常检查抽样方案（主表） 17
表Ⅳ—B多次加严检查抽样方案（主表） 19
表Ⅳ—C多次放宽检查抽样方案（主表） 21
表Ⅴ—A正常检查平均出厂质量上限系数（一次抽样） 23
表Ⅴ—B加严检查平均出厂质量上限系数（一次抽样） 24
表Ⅵ— A极限质量（不合格品率），Pa= 10%（正常检查，一次抽样） 25
表Ⅵ— B极限质量（每百单元缺陷数），Pa =10%（正常检查、一次抽样） 26
表—A极限质量（不合格品率），Pa= 5%（正常检查、一次抽样） 27
表Ⅶ一B极限质量（每百单元缺陷数），Pa= 5 %（正常检查、一次抽样） 28
表Ⅷ 放宽检查的界限数 29
表Ⅸ 二次和多次抽样平均样品大小曲线 30
各样品字码的抽样方案、抽查特性曲线及数值表： 31
表X—A样品字码A 31
表X—B样品字码B 33
表X—C样品字码C 35
表X—D样品字码D 37
表X—E样品字码E 39
表X—F样品字码F 41
表X—G样品字码G 43
表X—H样品字码H 45
表X—J样品字码J 47
表X—K样品字码K 49
表X—L样品字码L 51
表X—M样品字码M 53
表X—N样品字码N 55
表X—P样品字码P 57
表X—Q样品字码Q 59
表X—R样品字码R 61
表X—S样品字码S 63
专有名词索引 64