- 作 者：齐怀印，卢锦编著
- 出 版 社：北京：电子工业出版社
- 出版年份：1996
- ISBN：7505331590
- 标注页数：360 页
- PDF页数：368 页
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上篇 PLD器件的结构与设计法 1
第1章 只读存储器ROM 1
1.1 概述 1
1.2 PROM 6
1.3 EPROM 10
1.4 EEPROM 14
1.5 ROM的应用与扩展 17
第2章 可编程逻辑阵列PLA 23
2.1 PLA的构造原理 23
2.2 PLA器件 24
2.3 PLA器件的应用 28
第3章 可编程阵列逻辑PAL 35
3.1 PAL的构造原理 35
3.2 PAL的基本结构 36
3.3 PAL器件的技术特性 46
3.4 PAL器件的选用 51
第4章 通用阵列逻辑GAL 56
4.1 FGMOS管结构和编程原理 56
4.2 GAL器件的结构 58
4.3 GAL器件介绍 67
4.4 GAL器件的主要性能特点及应用 79
第5章 可擦除可编程逻辑器件EPLD 81
5.1 AT22V10 81
5.2 ATV750 88
5.3 ATV2500 94
5.4 ATV5000简介 99
第6章 PLD器件的设计方法 104
6.1 PLD器件设计的一般步骤 104
6.2 采用真值表的设计方法 105
6.3 采用逻辑方程的设计方法 110
6.4 采用状态图的设计方法 112
下篇 ABEL设计语言与编程设计 122
第7章 ABEL语言概述 123
7.1 ABEL语言的特点及设计程序 123
7.2 ABEL软盘内容及系统配置 123
7.3 ABEL源文件 125
第8章 ABEL语言元素和语言结构 127
8.1 ABEL语言元素 127
8.2 语言结构 137
8.3 DIRECTIVES指示字 149
第9章 ABEL语言处理程序 155
9.1 ABEL批处理程序 155
9.2 PARES语法分析程序 158
9.3 TRANSFOR变换程序 161
9.4 REDUCE逻辑化简程序 162
9.5 FUSEMAP熔丝图生成程序 164
9.6 SIMULATE仿真程序 165
9.7 DOCUMENT设计编制程序 176
9.8 ABEL实用软件 181
第10章 PLD器件的设计样例 185
10.1 PLD器件的设计过程 185
10.2 组合逻辑设计 189
10.3 时序逻辑设计 210
10.4 状态机设计 230
第11章 设计与仿真中应考虑的问题 260
11.1 逻辑设计考虑要点 260
11.2 正确设置测试向量，提高仿真质量 265
第12章 运用商级器件特性进行设计 279
12.1 输出使能的控制 279
12.2 用ISTYPE语句设计源文件 281
12.3 使用器件节点的设计 284
12.4 对器件反馈的设计 287
12.5 多路选择器的运用 290
12.6 控制寄存器类型 291
12.7 互补阵列的运用 292
12.8 模拟JK寄存器 294
12.9 XOR在PAL器件方程中的使用 295
第13章 ABEL.语言实验指导 296
实验1 ABEL语言基础知识 296
实验2 ABEL语言的检错 299
实验3 ABEL源文件的分步处理程序 303
实验4 分析并改写源文件 305
实验5 设计源文件 307
附录A 常用PAL器件技术性能 310
附录B 常用PLD器件逻辑图 317
附录C 可编程逻辑器件信息 341
附录D ASCII码表 349
附录E ABED3.0用户注意事项 351
附录F 词汇 358