RISC及后编译技术

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第一篇总体功能设计 1

第一章体系结构 3

第二章指令集合 33

第三章测试接口 53

第二篇逻辑结构设计 93

第四章核心RISC 95

第五章数值RISC 139

第六章智能RISC 185

第三篇物理实现设计 213

第七章电路设计语言 215

第八章版图设计 240

第九章 JTAG协议产生器 274

第十章 RISC芯片产生器 311

第四篇后编译技术 337

第十一章代码优化技术 339

第十二章代码产生技术 361

参考文献 368