- 作 者：彭志忠主编
- 出 版 社：北京：地质出版社
- 出版年份：1982
- ISBN：15038·教135
- 标注页数：250 页
- PDF页数：257 页
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第一章 晶体构造的几何学 1
一、空间格子 1
目录 1
二、晶格中面网、行列、结点的符号 5
三、面网间距、行列中结点间距和晶胞体积计算公式 10
四、晶体构造的对称 13
实习内容 26
第二章 X射线物理学 28
一、X射线的本性 28
二、X射线的产生 29
三、连续X射线光谱和特征X射线光谱 29
四、X射线与物质的相互作用 34
五、晶体的线型衰减系数的计算 41
六、X射线的检查和记录 42
实习内容 44
一、衍射的概念 48
第三章 X射线在晶体中的衍射 48
二、劳埃方程式 49
三、布拉格方程式 53
四、倒易格子和晶体的衍射方向 55
五、衍射线的强度 60
第四章 单晶X射线照相方法 66
一、引言 66
二、劳埃法 66
三、旋转法 72
四、回摆法 82
五、华盛堡（Weissenberg）法 86
六、旋进照相法 98
七、四圆单晶衍射仪法 101
八、空间格子类型和空间群的测定 104
九、晶胞中“分子数”（Z）的计算 107
十、根据单晶资料鉴定矿物的方法 109
实习内容 111
第五章 多晶体的X射线分析方法——粉末法 113
一、引言 113
二、照相基本条件和方法 113
三、照片上图相的解释 114
四、底片的安装 116
五、粉末照相机 117
六、粉末法的用途 122
实习内容 123
第六章 X射线物相分析 132
一、X射线鉴定矿物的原理 132
二、衍射数据的获得 132
三、X射线鉴定矿物的方法 147
四、X射线物相定量分析 159
实习内容 161
二、粉末图指标化的方法 164
一、粉末图指标化的意义 164
第七章 粉末图指标化 164
三、空间格子类型的确定 175
实习内容 176
第八章 点阵参数的精确测定 177
一、精确测定点阵参数的用途 177
二、精确测定点阵参数的原理 178
三、粉末照相法的系统误差 180
四、精确测定点阵参数的方法 183
五、精确测定点阵参数的若干技术问题 193
实习内容 196
第九章 聚焦照相机和背射照相机 200
一、聚焦照相机 200
二、背射照相机 209
实习内容 211
附录 212
主要参考书 250