- 作 者：电子产品可靠性与环境试验编辑部编辑
- 出 版 社：电子产品可靠性与环境试验编辑部
- 出版年份：1983
- ISBN：
- 标注页数：106 页
- PDF页数：110 页
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元件可靠性 1
关于磁带寿命的若干问题&铃木喜久、贝塜隆则 等 1
高辉度数字显示管的寿命试验&矢杉井久雄 等 4
印刷板（金属化孔）的可靠性&田代通也 6
电视机接插件的可靠性评价方法&松尾干也 等 10
功率晶体管的可靠性研究&岛冈 诚 等 13
功率晶体管焊接层的热强度分析&保川彰夫 等 17
发光二极管的老化特性&蟹江 寿 等 22
薄氧化膜的老化击穿失效&沢田功吉付 26
薄膜载体器件的可靠性研究&时早征男 等 31
可靠性活动与管理 36
三洋电机公司可靠性数据库系统的开发及运用&长谷川肇等 36
用户的软件可靠性管理&三觜 武 42
在外协作厂家生产的电子设备的可靠性管理&辰段政照、筱原广繁 46
工厂电子测试设备可靠性与维护性的改进&桥本利夫 等 50
与早期质量有关的用户动向的掌握及利用&吉田 隆裕 等 57
组合环境试验方法&弓削 恒等 60
可靠性设计 64
MIL-HDBK-217C之主要修改点&保田襄似 64
树脂封装功率集成电路PN结-封壳热阻与封壳-大气热阻及总热阻间的关系&须藤 保等 69
用微型计算机进行威布尔型失效分析&益田昭彦 月原保久 73
彩电可靠性数据的收集与分析&上田重博 米田昌司 78
不完整数据分析方法的研究&野中保雄 82
可靠性试验和故障分析 85
塑料封装半导体器件的耐湿可靠性&戒能俊邦 等 85
如何定量掌握用户对可靠性试验的要求&三浦 勇等 89
电子计算机中集成电路的失效分析&石山一雄等 91
16K EPROM的可靠性比较试验&岩崎二三男等 94
威布尔分布元器件的最佳替换方式&掘笼 教夫 101