- 作 者：于军主编
- 出 版 社：北京：中国电力出版社
- 出版年份：2010
- ISBN：9787512310797
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第一篇 数字电子技术实验 1
基础验证性实验 1
实验一 TTL与非门的逻辑功能与参数测试 1
实验二 门电路逻辑功能测试与变换 7
实验三 编码器测试及其应用 12
实验四 译码器测试及其应用 18
实验五 数据选择器测试及其应用 28
实验六 数值比较器测试及其应用 34
实验七 触发器测试及其功能转换 38
实验八 移位寄存器测试及其应用 47
实验九 计数器测试及其应用 55
实验十 555定时器的应用 60
综合设计性实验 68
实验十一 组合逻辑电路的设计 68
实验十二 一位数值比较电路的设计 71
实验十三 同步时序逻辑电路的设计 73
实验十四 计数、译码、显示电路的设计 79
实验十五 60s定时显示电路的设计 82
第二篇 MultiSIM 9.0仿真实验 84
MultiSIM 9.0仿真软件的使用 84
实验十六 MultiSIM 9.0的认识 84
实验十七 MultiSIM 9.0的操作 99
MultiSIM 9.0仿真实验 105
实验十八 组合逻辑电路的仿真分析 105
实验十九 常见组合逻辑电路的仿真测试 109
实验二十 8位LED数码管动态显示电路的仿真测试 117
实验二十一 触发器逻辑功能仿真测试及其应用 121
实验二十二 彩灯变幻控制电路的设计 126
实验二十三 数字式秒表的设计 130
实验二十四 1Hz时钟信号源电路的设计 133
附录A 几种常用的CD系列数字集成芯片引脚功能排列 142
参考文献 143