- 作 者：（英）伍德著
- 出 版 社：成都：西南交通大学出版社
- 出版年份：2011
- ISBN：9787564311209
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1引言 1
2低功率／能量水平下的光学效应 6
2.1引言 6
2.2电磁理论 6
2.3色散 7
2.4反射率和透射率 12
2.5导电表面的反射和吸收 17
2.6分子极化率 20
2.7吸收 20
2.8散射 23
2.9 R，T，A，S测量的分析 27
3中等功率／能量下的光学效应 35
3.1引言 35
3.2吸收 35
3.3拉曼散射 37
3.4布里渊散射 40
3.5谐波产生 41
3.6自聚焦 41
4损伤理论 46
4.1引言 46
4.2热机制 52
4.3电介质过程 71
4.4测试规则 77
4.5损伤时间 79
4.6损伤形貌 82
5表面和亚表面 92
5.1引言 92
5.2表面 93
5.3亚表面 109
6镀膜／涂层 115
6.1引言 115
6.2镀膜／涂层技术 117
6.3涂层表面的测量和形貌 120
6.4涂层设计 121
6.5电介质涂层损伤 128
7专题 131
7.1环境大气／气体 131
7.2液体 134
7.3光电探测器 136
7.4光纤光学 138
7.5标度律 141
7.6测量单位的重要性 145
8测量技术 147
8.1引言 147
8.2功率、功率密度、能量和能量密度的测量 148
8.3激光诱导损伤阈值 159
8.4光学特性的测量 163
8.5表面测量和指标 173
8.6其他光学参数的测量 176
附录 178
参考文献 194
索引 204
后记 208