- 作 者：陈耀华主编；毛期俭，李桂盛，周永明等编著
- 出 版 社：北京：科学技术文献出版社
- 出版年份：1994
- ISBN：7502322531
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第一章 基本实验 1
实验一 晶体管开关特性测试 3
实验二 集成逻辑门测试 6
实验三 三态门、OC门的功能测试及其应用 13
实验四 组合逻辑电路的设计及功能测试 18
实验五 译码器及其应用 22
实验六 数据选择器及其应用 30
实验七 半加器、全加器及其应用 32
实验八 数值比较器及其应用 36
实验九 集成触发器 39
实验十 移位寄存器和移存型计数器及其应用 44
实验十一 计数器及其应用 49
实验十二 序列检测器的设计与测试 57
实验十三 脉冲信号的产生与整形电路 60
实验十四 集成单稳态触发器、施密特触发器及其应用 66
实验十五 锯齿电压波发生器 72
实验十六 555定时器及其应用 76
实验十七 累加／减器和算术逻辑运算单元 81
实验十八 大规模集成存贮器RAM和ROM 89
实验十九 数模和模数转换器 98
第二章 综合实验 111
课题一 数字电子钟 114
课题二 数字频率计 122
课题三 数字电压表 127
课题四 射击自动报靶器 134
课题五 TTL集成电路自动检测器 139
课题六 十字路口的交通灯控制器 141
第三章 实验基本知识及常用仪器 143
第一节 TTL器件和CMOS器件使用规则 143
第二节 TTL器件、CMOS器件、运算放大器之间的接口电路 145
第三节 实验注意事项及常见故障检查 148
第四节 数字显示器判别法及使用注意事项 150
第五节 数字逻辑实验箱 151
第六节 双踪示波器 153
第七节 数字式频率计 166
第八节 逻辑笔 171
附录 部分常用集成电路汇集 173
附录一 我国数字集成电路型号介绍（含TTL、CMOS电路） 173
附录二 国际数字集成电路规范（含TTL、CMOS电路） 175
附录三 国内外部分集成电路型号对照表 176
附录四 部分常用集成电路汇编 176
附录五 部分常用中规模集成电路功能表、真值表和时序波形 200