- 作 者：刘粤惠，刘平安编著
- 出 版 社：北京：化学工业出版社
- 出版年份：2003
- ISBN：7502548300
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第1章 概述 1
1.1 材料分析表征方法简述 1
1.2 X射线衍射分析技术的发展及现状 1
1.3 X射线应用技术简介 3
第2章 X射线的产生及性质 7
2.1 X射线的性质 7
2.2 X射线的产生 9
2.3 X射线谱 11
2.4 X射线与物质的相互作用 16
习题 24
第3章 X射线衍射原理 25
3.1 晶体学基础 25
3.2 X射线衍射原理 36
3.3 X射线衍射方程 38
习题 44
第4章 X射线衍射方法 45
4.1 粉晶衍射仪法 46
4.2 其他X射线衍射仪 65
习题 68
第5章 X射线衍射数据 69
5.1 衍射方向 69
5.2 衍射强度 69
5.3 衍射数据的确定和表示 77
5.4 衍射线分离 80
习题 82
6.1 概念与原理 83
第6章 X射线物相定性分析 83
6.2 标准衍射数据资料简介 85
6.3 物相分析方法及步骤 100
习题 121
第7章 X射线物相定量分析 122
7.1 物相定量分析原理 122
7.2 物相定量分析方法 124
习题 139
第8章 衍射系统消光概念及应用 140
8.1 衍射系统消光规律 140
8.2 消光规律应用 143
习题 152
9.1 X射线物相鉴定 153
第9章 X射线衍射分析方法的应用 153
9.2 物相定量分析 200
9.3 粉末晶体结构分析 204
9.4 晶粒度及晶格应变的测定 211
习题 215
第10章 X射线衍射结构分析的新方法——Rietveld法 216
10.1 Rietveld方法的基本原理 217
10.2 Rietveld分析的实验方案 218
10.3 Rietveld方法的应用 219
习题 221
实验1 单相物质X射线衍射分析 222
实验2 两相物质X射线衍射分析 225
附录 229
参考文献 256