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- 作 者：上海半导体器件研究所情报资料室
- 出 版 社：上海半导体器件研究所
- 出版年份：1977
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目录 1
半导体存储器测试技术 1
动态存储器 15
半导体存储器测试 18
MOS存储器的图形灵敏度 27
4096位随机存取存储器的图形灵敏度 29
MOS随机存取存储器的诊断性测试 37
随机存取存储器的测试图形及测试对策 44
4K随机存取存储器的测试问题及其解决方法 52
严密、高速的“移动变反”测试图形 61
存储器测试对策 67
只读存储器和可编程序只读存储器的测试需要什么条件 75
静态双极型随机存取存储器的测试 86
在芯片和插件板一级测试双极型半导体存储器所遇到的问题 97
电荷耦合存储器的测试原理 99
多少测试项目才够数？ 111
存储器和大规模集成电路的时间测试的必要性 116
器件测试系统之探讨 131
第三代测试系统的新结构 141
计算样品统计分布的四次测量及通知非正态性分布的一种快速工作程序 147
汇编结构及改正算法 153
高速存储器／随机逻辑测试系统 160