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- 作 者：杨刚主编
- 出 版 社：北京：电子工业出版社
- 出版年份：2004
- ISBN：7505393839
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实验一 TTL和CMOS门电路参数的测试 1
实验二 基本门电路逻辑功能验证 9
实验三 OC门和三态门的应用 18
实验四 编码器和译码器 24
实验五 数据选择器 30
实验六 组合逻辑电路的应用 37
实验七 触发器 43
实验八 寄存器 52
实验九 数值比较器 57
实验十 CMOS器件功能测试 60
实验十一 计数器 64
实验十二 半加器和全加器的逻辑功能验证 71
实验十三 逻辑电路的竞争冒险现象 77
实验十四 脉冲的产生与整形 82
实验十五 555定时器功能及应用 86
实验十六 存储器 93
实验十七 数模转换器 99
实验十八 模数转换器 106
实验十九 用PLD实现74LS138功能 111
实验二十 用PLD实现74LS90功能 116
附录A Multisim2001使用指南 121
附录B NET-Ⅱ数字实验系统的结构及使用说明 150
附录C 数字集成电路引脚排列图 152