数字电子技术基础实验

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实验一 TTL和CMOS门电路参数的测试 1

实验二基本门电路逻辑功能验证 9

实验三 OC门和三态门的应用 18

实验四编码器和译码器 24

实验五数据选择器 30

实验六组合逻辑电路的应用 37

实验七触发器 43

实验八寄存器 52

实验九数值比较器 57

实验十 CMOS器件功能测试 60

实验十一计数器 64

实验十二半加器和全加器的逻辑功能验证 71

实验十三逻辑电路的竞争冒险现象 77

实验十四脉冲的产生与整形 82

实验十五 555定时器功能及应用 86

实验十六存储器 93

实验十七数模转换器 99

实验十八模数转换器 106

实验十九用PLD实现74LS138功能 111

实验二十用PLD实现74LS90功能 116

附录A Multisim2001使用指南 121

附录B NET-Ⅱ数字实验系统的结构及使用说明 150

附录C 数字集成电路引脚排列图 152