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C-MOS电路之故障原因与对策

作者：王政友编著
出版社：无线电界杂志社
出版年份：1982
ISBN：
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第一章 C-MOS IC 1

1 C-MOS之构造与动作原理 1

2 C-MOS IC之特长 5

第二章 C-MOS IC之特性 11

1 C-MOS IC之基本特性 11

2 规格与有关数据 16

3 标准C-MOS IC之规格 19

1 由静电破坏所引起之故障 23

第三章 C-MOS电路之故障——原因与对策 23

2 由Latch up现象所引起之障害 30

3 由於Slow-Clock所引起之异常与防止对策 40

4 由杂音所引起之异常 51

5 由电源部分所引起之异常与防止对策 64

6 由Hazard所引起之异常 75

7 由温度所引起之异常 89

8 其他原因所引起之异常 97

9 由Interface之不良所引起之异常 109

第四章 C-MOS之信赖性与fail-Safe之问题 121