- 作 者：王霄锋编著
- 出 版 社：北京：清华大学出版社
- 出版年份：2004
- ISBN：7302079765
- 标注页数：149 页
- PDF页数：157 页
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目录 1
1 引言 1
2 测量过程变差 3
2.1 测量过程变差 3
2.2 正态分布简介 4
2.3 总体、样本及其分布 8
3 测量标准等级体系与被测特性的基准值 11
3.1 测量标准等级体系 11
3.2 被测特性的基准值（参考值） 12
4 测量系统的统计稳定性 15
4.1 进行测量系统统计稳定性分析的指南 15
4.2 应用？—R图监控测量系统稳定性的例子 16
5 测量误差分析 21
6 测量系统的偏倚 23
6.1 确定偏倚的独立样本法 24
6.2 确定偏倚的控制图方法 25
7 测量系统的重复性和再现性与测量系统的分辨率 28
7.1 测量系统的重复性 28
7.2 测量系统的再现性 29
7.3 测量系统的重复性和再现性 30
7.4 对测量的理解 31
7.5 测量系统的分辨率 32
8.1 极差法 39
8 在实际中应用的几种确定测量系统重复性和再现性的方法 39
8.2 均值－极差法 40
8.3 用于重复性和再现性分析的方差分析方法 64
8.4 考虑评价人－零件间相互作用的均值极差法 73
8.5 引起测量系统重复性、再现性问题的可能原因 79
8.6 减小重复性和再现性变差的一种方法 80
——多次重复读数 80
8.7 测量系统重复性和再现性（R R）对过程能力 82
估计值的影响 82
9 测量系统的线性 86
9.1 测量系统线性分析方法 86
9.2 考虑测量系统线性的测量值模型 94
9.3 考虑线性的测量系统的分辨率 95
9.4 测量系统线性、重复性和再现性（R R）对过程能力估计值的影响 97
10 制订测量系统分析的计划 105
11 量具性能曲线 107
12 计数型量具研究 112
12.1 解析法（长方法） 112
12.2 信号探测法 117
13 破坏性试验的测量系统分析方法 122
附录 125
参考文献 149