当前位置： 半导体器件的可靠性 第2集 > 购买云解压PDF图书
- 作 者：中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
- 出 版 社：北京：科学技术文献出版社；重庆分社
- 出版年份：1976
- ISBN：
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第二部分 单块微电路的构造 1
第四部分 线性单块微电路 1
第三部分 数字单块微电路 1
目录 1
第一部分 导论 1
单块微电路的应用 1
单块微电路的失效机构 58
第一部分 导论 58
第二部分 单块微电路制造过程中产生的缺陷 58
第三部分 失效机构的讨论 58
第四部分 筛选方法 58
第五部分 纠正措施 58