当前位置:半导体器件的可靠性 第2集pdf电子书下载 > 工业技术

- 作 者:中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
- 出 版 社:北京:科学技术文献出版社;重庆分社
- 出版年份:1976
- ISBN:
- 标注页数:68 页
- PDF页数:71 页
请阅读订购服务说明与试读!
订购服务说明
1、本站所有的书默认都是PDF格式,该格式图书只能阅读和打印,不能再次编辑。
2、除分上下册或者多册的情况下,一般PDF页数一定要大于标注页数才建议下单购买。【本资源71 ≥68页】
图书下载及付费说明
1、所有的电子图书为PDF格式,支持电脑、手机、平板等各类电子设备阅读;可以任意拷贝文件到不同的阅读设备里进行阅读。
2、电子图书在提交订单后一般半小时内处理完成,最晚48小时内处理完成。(非工作日购买会延迟)
3、所有的电子图书都是原书直接扫描方式制作而成。
第二部分 单块微电路的构造 1
第四部分 线性单块微电路 1
第三部分 数字单块微电路 1
目录 1
第一部分 导论 1
单块微电路的应用 1
单块微电路的失效机构 58
第一部分 导论 58
第二部分 单块微电路制造过程中产生的缺陷 58
第三部分 失效机构的讨论 58
第四部分 筛选方法 58
第五部分 纠正措施 58