当前位置： 半导体器件的可靠性 专集 > 购买云解压PDF图书
- 作 者：中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
- 出 版 社：北京：科学技术文献出版社；重庆分社
- 出版年份：1974
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目录 1
可靠性物理、数学模型和统计学中的一些统一概念 1
集成电路可靠性筛选程序 8
失效分析在集成电路的采购和筛选中的应用 22
对于集成电路级增应力试验概念的界限 38
二氧化硅上铝金属化的可靠性现象 44
集成电路中与热压键合有关的失效机理 54
硅集成电路的无损的铝－金系统 59
集成电路互连铝金属层的选择性铬酸盐转换 63
降低半导体器件质量的微缺陷在硅原始材料中的作用 67
硅晶体管中的结构缺陷和结特性 72
氧化物－硅界面 77
绝缘层上可动表面电荷的积聚和衰减及其与硅器件可靠性的关系 90
与硅器件表面失效机构有关的缺陷和杂质 99
清洁金属氧化物半导体系统 110
用放射化学和MOS分析硅上热氧化层中正负离子的运动 121
热氧化物中磷扩散对MOS结构热稳定性的影响 126
温度和偏压处理时钝化的P+-N结的失效机理 132
硅PN结中沟道电流形成的机构 140
半导体器件铁－镍－钴合金引线的应力腐蚀失效的防护 147
氧化硅上通电薄层铝条的失效 153
硅平面管用七种冶金学系统的分析 157
金相学在电子元件失效分析中的应用 161