- 作 者：（美）韦斯特，（美）哈里斯著
- 出 版 社：北京：电子工业出版社
- 出版年份：2012
- ISBN：9787121174704
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第1章引论 1
1.1集成电路简史 1
12概述 5
1.3MOS晶体管 5
1.4CMOS逻辑 7
1.5CMOS的制造和版图 17
1.6设计划分（DesignPaitioning） 25
1.7举例：一个简单的MIPS微处理器 28
1.8逻辑设计 33
1.9电路设计 36
1.10物理设计 39
1.11设计验证 45
1.12制造、封装和测试 46
本章小结和本书概要 47
习题 49
第2章MOS晶体管原理 51
2.1引言 51
2.2长沟道晶体管的I-V特性 54
2.3C-V特性 57
2.4非理想的I-V效应 61
2.5直流传输特性 73
2.6常见隐患与误区 78
本章小结 79
习题 80
第3章CMOS工艺技术 82
3.1引言 82
3.2CMOS工艺 83
3.3版图设计规则 93
3.4CMOS工艺增强技术 99
3.5与工艺相关的CAD问题 109
3.6有关制造的问题 111
3.7常见隐患与误区 114
3.8历史透视 115
本章小结 116
习题 117
第4章 延时 118
4.1引言 118
4.2瞬态响应 120
4.3 RC延时模型 122
4.4线性延时模型 130
4.5路径逻辑努力 138
4.6用于时序分析的延时模型 147
4.7常见隐患与误区 148
4.8历史透视 148
本章小结 149
习题 150
第5章 功耗 153
5.1引言 153
5.2动态功耗 157
5.3静态功耗 164
5.4能耗-延时的优化 170
5.5低功耗体系结构 173
5.6常见隐患与误区 175
5.7历史透视 176
本章小结 177
习题 178
第6章 互连线 179
6.1引言 179
6.2互连线建模 180
6.3互连线的影响 186
6.4互连线设计 194
6.5考虑互连线时逻辑努力方法的应用 199
6.6常见隐患与误区 201
本章小结 201
习题 201
第7章 鲁棒性 203
7.1引言 203
7.2扰动 203
7.3可靠性 207
7.4按比例缩小 215
7.5扰动的统计分析 222
7.6容扰动设计 233
7.7常见隐患与误区 235
7.8历史透视 236
本章小结 239
习题 240
第8章 电路模拟 241
8.1引言 241
8.2 SPICE模拟器简介 241
8.3器件模型 251
8.4器件表征 255
8.5电路表征 264
8.6互连线模拟 269
8.7常见隐患与误区 272
本章小结 273
习题 274
第9章 组合电路设计 275
9.1引言 275
9.2电路系列 276
9.3电路隐患 301
9.4其他电路系列 307
9.5绝缘体上硅的电路设计 307
9.6亚阈值电路设计 310
9.7常见隐患与误区 312
9.8历史透视 313
本章小结 315
习题 316
第10章 时序电路设计 319
10.1引言 319
10.2静态电路的时序控制 319
10.3锁存器和触发器的电路设计 332
10.4静态时序元件设计方法学 342
10.5动态电路的时序控制 350
10.6同步器 350
10.7行波流水 358
10.8常见隐患与误区 359
10.9案例研究：Pentium 4和Itanium 2的时序控制策略 360
本章小结 360
习题 362
第11章 数据通路子系统 364
11.1引言 364
11.2加法／减法 364
11.3 1/0检测器 391
11.4比较器 392
11.5计数器 394
11.6布尔逻辑运算 397
11.7编码 397
11.8移位器 400
11.9乘法 404
11.10并行前置计算 417
11.11常见隐患与误区 420
本章小结 420
习题 420
第12章 阵列子系统 422
12.1引言 422
12.2 SRAM 423
12.3 DRAM 446
12.4只读存储器 450
12.5顺序存取存储器 456
12.6按内容寻址存储器 457
12.7可编程逻辑阵列 459
12.8鲁棒性好的存储器设计 462
12.9历史透视 465
本章小结 466
习题 466
第13章 专用子系统 468
13.1引言 468
13.2封装及冷却技术 468
13.3电源分布 472
13.4时钟 482
13.5 PLL和DLL 494
13.6 I/O 503
13.7高速链接 509
13.8随机电路 521
13.9常见隐患与误区 522
本章小结 523
习题 524
第14章 设计方法学与工具 525
14.1引言 525
14.2结构设计策略 526
14.3设计方法 534
14.4设计流程 542
14.5设计经济学 551
14.6数据表和文档 558
14.7 CMOS物理设计风格 560
14.8常见隐患与误区 560
习题 560
第15章 调试与验证 561
15.1引言 561
15.2测试仪、测试夹具和测试程序 566
15.3逻辑验证原理 570
15.4硅片调试原理 572
15.5制造测试原理 575
15.6可测性设计 579
15.7边界扫描 585
15.8大学环境下的测试 586
15.9常见隐患与误区 586
本章小结 592
习题 592
附录A硬件描述语言 593
参考文献 665
索引 694