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- 作 者：日本分析化学会X线工业分析法研究恳谈会
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- 出版年份：2222
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目次基础编萤光X线分析法——现在の限度と将来发展の倾向 L．S．Birks 5
X线スぺクトルによる化学分析 佐川 敬 14
RIを线源とした吸收分析 野崎 正 62
应用编长面间隔を利用する高级脂肪酸のX线回折による分析 后藤みどり·浅田栄一 82
VO2.17の粉末法によるX线回折に关する研究 武内次夫·深沢 力·伊藤醇一 91
RI线源を用いたセメント原料の萤光X线分析 今村 弘·内田 薰·富永 洋 99
コンプトン散乱を利用する炭化水素の元素分析法 长谷川惠之·梶川正雄·冈本伸和·浅田栄一 111
ゼノタイム鉱中の Y,U,Th,Snおよひ Ti の萤光X线分析 堤健一 120
重油中のイオウの萤光X线分析法 古川满彦·柳ケ濑健次郎 132
Soller Slitを用いた光学系の Peak Profile 新井 智也 139
ARL式X线力ントメ一タ一の构造およびニれによる分析时间 筑山 宏·冈下英男 154
铜系合金の萤光X线分析 石原义博·古贺守考·横仓清治·内田昭二 165
溶液法による中の铜，亚铅，铅の萤光X线分析 西村耕一·河崎 丰 173
U．S．Naval Research研究所における电子プロ一ブ型マイクロ分析の研究 L．S．Birks 183