- 作 者：宋玉兴，任长明编著
- 出 版 社：北京：中国电力出版社
- 出版年份：2005
- ISBN：7508322908
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目录 1
前言 1
第1章 绪论 1
1.1 集成电路的发展和意义 1
1.2 超大规模集成电路的优点 2
1.3 VLSI设计方法 3
1.4 设计流程 4
1.5 Cadence系统简介 7
第2章 MOS器件与电路设计基础 9
2.1 MOS晶体管 9
2.2 MOS反相器 15
2.3 MOS开关 22
2.4 电阻估算 24
2.5 MOS器件的电容 27
2.6 反相器的延迟 29
2.7 传输延迟 34
2.8 导电层的选用 36
2.9 大电容负载的驱动 37
2.10 功耗 40
习题与思考题 41
第3章 MOS集成电路的制造过程 43
3.1 NMOS集成电路的制造过程 43
3.2 CMOS集成电路的制造过程 46
习题与思考题 52
第4章 集成电路的设计过程 53
4.1 MOS电路掩模层的表示方法与条形图 53
4.2 设计规则 57
4.3 条形图到版图的转换 66
4.4 简单MOS电路版图布局 67
4.5 局部版图设计应注意的若干问题 79
习题与思考题 82
第5章 集成电路的设计方法学 83
5.1 全定制电路设计 83
5.2 全定制电路的阵列逻辑设计 88
5.3 门阵列设计方法 101
5.4 标准单元设计法 112
习题与思考题 117
第6章 FPGA原理与设计 118
6.1 概述 118
6.2 ALTERA可编程逻辑器件 126
6.3 MAX＋plus Ⅱ开发工具与FPGA的设计 147
习题与思考题 178
第7章 VLSI可测试性设计 179
7.1 VLSI可测试性设计的重要意义 179
7.2 测试基础 180
7.3 可测试性结构设计 186
7.4 内含自测试技术 192
7.5 标准化测试体系结构设计方法——JTAG法 195
7.6 标准测试存取口与边界扫描结构 199
习题与思考题 204
第8章 VHDL 205
8.1 VHDL的构件 205
8.2 数据类型、运算符与表达式 210
8.3 并行语句与顺序语句 220
8.4 属性 228
8.5 子程序 232
8.6 配置 240
8.7 设计举例 245
习题与思考题 250
参考文献 251