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公差配合与技术测量
  • 作 者:曾秀云著
  • 出 版 社:北京:机械工业出版社
  • 出版年份:2010
  • ISBN:9787111312543
  • 标注页数:163 页
  • PDF页数:169 页
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绪论 1

复习思考题 3

第一章 尺寸公差与配合 4

第一节 基本术语及其定义 5

第二节 标准公差系列 13

第三节 基本偏差系列 16

第四节 基准制 24

第五节 公差带与配合的选用 30

本章小结 35

复习思考题 37

第二章 几何公差 39

第一节 概述 39

第二节 几何公差和公差带 45

第三节 几何公差的标注 55

第四节 公差原则 60

第五节 几何公差的定义和解释 67

本章小结 91

复习思考题 92

第三章 表面粗糙度 96

第一节 表面粗糙度概述 96

第二节 表面粗糙度的评定 98

第三节 表面粗糙度符号、代号及标注 104

第四节 表面粗糙度的应用及检测 111

本章小结 113

复习思考题 114

第四章 技术测量 115

第一节 技术测量的基础知识 115

第二节 常用长度计量器具 119

第三节 常用角度计量器具 128

第四节 光滑工件尺寸的检测 134

本章小结 142

复习思考题 143

附录 146

附录A 轴的极限偏差 146

附录B 孔的极限偏差 155

参考文献 163

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