- 作 者：中国标准出版社第五编辑室编
- 出 版 社：北京：中国标准出版社
- 出版年份：2010
- ISBN：9787506659734
- 标注页数：466 页
- PDF页数：474 页
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一、基础标准 3
GB/T 17507—2008 透射电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样的通用技术条件 3
GB/T 18735—2002 分析电镜（AEM/EDS）纳米薄标样通用规范 11
GB/T 19619—2004 纳米材料术语 17
二、产品标准 33
GB/T 19345—2003 非晶、纳米晶软磁合金带材 33
GB/T 19588—2004 纳米镍粉 41
GB/T 19589—2004 纳米氧化锌 47
GB/T 19590—2004 超微细碳酸钙 57
GB/T 19591—2004 纳米二氧化钛 63
GB/T 24491—2009 多壁碳纳米管 73
三、试验方法标准 83
GB/T 6524—2003 金属粉末 粒度分布的测量 重力沉降光透法 83
GB/T 10722—2003 炭黑 总表面积和外表面积的测定 氮吸附法 99
GB/T 11847—2008 二氧化铀粉末比表面积测定BET容量法 109
GB/T 12334—2001 金属和其他非有机覆盖层 关于厚度测量的定义和一般规则 118
GB/T 13221—2004 纳米粉末粒度分布的测定 X射线小角散射法 123
GB/T 13390—2008 金属粉末比表面积的测定 氮吸附法 137
GB/T 18873—2008 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线能谱定量分析通则 149
GB/T 18907—2002 透射电子显微镜选区电子衍射分析方法 157
GB/T 19077.1—2008 粒度分析 激光衍射法 第1部分：通则 171
GB/T 19346—2003 非晶纳米晶软磁合金交流磁性能测试方法 201
GB/T 19587—2004 气体吸附BET法测定固态物质比表面积 209
GB/T 19627—2005 粒度分析 光子相关光谱法 221
GB/T 19921—2005 硅抛光片表面颗粒测试方法 246
GB/T 19922—2005 硅片局部平整度非接触式标准测试方法 256
GB/T 20099—2006 样品制备 粉末在液体中的分散方法 265
GB/T 20170.1—2006 稀土金属及其化合物物理性能测试方法 稀土化合物粒度分布的测定 291
GB/T 20170.2—2006 稀土金属及其化合物物理性能测试方法 稀土化合物比表面积的测定 301
GB/T 20307—2006 纳米级长度的扫描电镜测量方法通则 309
GB/T 20725—2006 波谱法定性点分析电子探针显微分析导则 324
GB/T 21510—2008 纳米无机材料抗菌性能检测方法 335
GB/T 22458—2008 仪器化纳米压入试验方法通则 345
GB/T 22462—2008 钢表面纳米、亚微米尺度薄膜 元素深度分布的定量测定 辉光放电原子发射光谱法 383
GB/T 22925—2009 纳米技术处理服装 397
GB/T 23413—2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法 411
GB/T 24369.1—2009 金纳米棒表征 第1部分：紫外／可见／近红外吸收光谱方法 422
GB/T 24370—2009 硒化镉量子点纳米晶体表征 紫外-可见吸收光谱方法 434
GB/T 24490—2009 多壁碳纳米管纯度的测量方法 449
GB/Z 21738—2008 一维纳米材料的基本结构 高分辨透射电子显微镜检测方法 459