- 作 者：初玲主编
- 出 版 社：北京：机械工业出版社
- 出版年份：2010
- ISBN：9787111315629
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第1章 数字电子技术实验基础知识 1
1.1 数字电子技术实验的基本过程 1
1.2 数字电子设备常见故障检修方法 2
第2章 组合逻辑电路 12
2.1 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 12
2.1.1 TTL集成逻辑门的基本知识 12
2.1.2 实验部分 15
2.2 CMOS集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 19
2.2.1 CMOS集成逻辑门的基本知识 19
2.2.2 实验部分 22
2.3 TTL集电极开路门与三态输出门的应用 26
2.3.1 TTL集电极开路门与三态输出门的基本知识 26
2.3.2 实验部分 28
2.4 加法器的设计 32
2.4.1 加法器的基本知识 32
2.4.2 实验部分 34
2.5 一般组合逻辑电路的设计 38
2.5.1 一般组合逻辑电路的设计方法及其竞争冒险的消除 38
2.5.2 实验部分 40
2.6 数据选择器 42
2.6.1 数据选择器的基本知识 42
2.6.2 实验部分 45
第3章 时序逻辑电路 49
3.1 触发器及应用 49
3.1.1 触发器 49
3.1.2 触发器应用实验 59
3.2 计数器及应用 64
3.2.1 计数器 64
3.2.2 计数器应用实验 73
3.3 移位寄存器及应用 78
3.3.1 数码寄存器与移位寄存器 78
3.3.2 移位寄存器应用实验 84
第4章 脉冲波形的产生和整形电路 89
4.1 555定时器及其应用 89
4.1.1 555定时器 89
4.1.2 施密特触发器 90
4.1.3 单稳态触发器 92
4.1.4 多谐振荡器 95
4.2 555定时器及应用实验 97
第5章 D/A、A/D转换器及其应用 100
5.1 D/A、A/D转换器 100
5.1.1 D/A转换器 100
5.1.2 A/D转换器 104
5.2 D/A和A/D转换器实验 108
第6章 综合设计实验 113
6.1 电子秒表 113
6.2 数控步进电动机 116
附录 部分TTL及CMOS集成电路的引脚排列 119
参考文献 122