晶体光学薄片研究法

作者：（苏）契特维里科夫（С.Д.Четвериков）著；孙鼐等译
出版社：北京：地质出版社
出版年份：1954
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原序 1

绪言 3

一、晶体光学的基本概念 4

折射率 4

晶体折射仪 5

非结晶介质和等轴晶系晶体的折射率面 7

中级晶族（六方、三方、正方或四方）晶体的折射率面 8

低级晶族（斜方、单斜、三斜）的晶体折射率面 11

折射率椭圆体 13

单轴晶体的折射率椭圆体 14

双轴晶体的折射率椭圆体 17

光轴角、光轴面和等分线的色散 22

固体的光学分类 27

二、晶体的光学研究法 28

概论 28

偏光显微镜 30

显微镜的准备工作 34

一个偏光镜下的观察 41

在正交偏光镜下用平行光的观察 56

在正交偏光镜下用聚敛光的观察 77

测定晶体的光性的系统程序 99

岩石薄片研究方法 102

结晶光学的习题 104

问题 104

1.结晶光学的基本概念 104

2.晶体的光学研究方法 112

答案 123

1.结晶光学的基本概念 123

2.晶体的光学研究方法 136

参考文献 153