- 作 者：周晓霞主编
- 出 版 社：北京：化学工业出版社
- 出版年份：2008
- ISBN：9787122028143
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第1章 数字电子技术实验基本知识 1
1．1 数字集成电路的分类及主要参数 1
1．2 实验方法概述 2
1．3 TTI集成电路与CMOS集成电路的使用规则 4
1．4 实验电路的故障检查和排除 6
1．5 数字电路的安装与测试技术 8
第2章 数字电子技术基本实验 10
2．1 实验一：TTL门电路参数测试 10
2．2 实验二：门电路及组合逻辑电路的设计 14
2．3 实验三：TTL集电极开路门与三态输出门的应用 18
2．4 实验四：加法器 23
2．5 实验五：数据选择器 27
2．6 实验六：触发器的研究 31
2．7 实验七：计数器及译码显示电路 35
2．8 实验八：移位寄存器 39
2．9 实验九：集成定时器 44
2．10 实验十：电子秒表 49
2．11 实验十一：模数和数模转换 54
第3章 数字电子技术参考实验 58
3．1 参考实验一：编码器 58
3．2 参考实验二：译码器 60
3．3 参考实验三：汽车尾灯控制电路设计 61
3．4 参考实验四：多路智力竞赛抢答器设计 64
第4章 数字电子电路的仿真 69
4．1 数字电子仿真实验常用仪表 69
4．2 仿真实验基本操作 73
4．3 Multisim10．0仿真实例 77
4．4 Multisim10．0数字仿真实验 83
附录A 我国及部分国际各主要公司TTL集成电路型号命名规则 91
附录B 部分逻辑图形符号对照表 94
附录C 常用集成芯片引脚 96
参考文献 101