- 作 者：全国纳米技术标准化技术委员会，中国标准出版社第五编辑室编
- 出 版 社：北京：中国标准出版社
- 出版年份：2008
- ISBN：7506648326
- 标注页数：335 页
- PDF页数：341 页
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一、基础标准 3
GB/T 17507—1998 电子显微镜X射线能谱分析 生物薄标样通用技术条件 3
GB/T 18735—2002 分析电镜（AEM/EDS）纳米薄标样通用规范 9
GB/T 19619—2004 纳米材料术语 15
二、产品标准 31
GB/T 19345—2003 非晶、纳米晶软磁合金带材 31
GB/T 19588—2004 纳米镍粉 39
GB/T 19589—2004 纳米氧化锌 45
GB/T 19590—2004 超微细碳酸钙 55
GB/T 19591—2004 纳米二氧化钛 61
三、试验方法标准 73
GB/T 6524—2003 金属粉末 粒度分布的测量 重力沉降光透法 73
GB/T 10722—2003 炭黑 总表面积和外表面积的测定 氮吸附法 89
GB 11847—1989 二氧化铀粉末比表面积测定 多点BET法 99
GB/T 12334—2001 金属和其他非有机覆盖层 关于厚度测量的定义和一般规则 105
GB/T 13221—2004 纳米粉末粒度分布的测定 X射线小角散射法 110
GB/T 13390—1992 金属粉末比表面积的测定 氮吸附法 122
GB/T 18873—2002 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线能谱定量分析通则 133
GB/T 18907—2002 透射电子显微镜选区电子衍射分析方法 141
GB/T 19077.1—2003 粒度分析 激光衍射法 155
GB/T 19346—2003 非晶纳米晶软磁合金交流磁性能测试方法 203
GB/T 19587—2004 气体吸附BET法测定固态物质比表面积 211
GB/T 19627—2005 粒度分析 光子相关光谱法 223
GB/T 19921—2005 硅抛光片表面颗粒测试方法 248
GB/T 19922—2005 硅片局部平整度非接触式标准测试方法 258
GB/T 20099—2006 样品制备 粉末在液体中的分散方法 267
GB/T 20170.1—2006 稀土金属及其化合物物理性能测试方法 稀土化合物粒度分布的测定 293
GB/T 20170.2—2006 稀土金属及其化合物物理性能测试方法 稀土化合物比表面积的测定 303
GB/T 20307—2006 纳米级长度的扫描电镜测量方法通则 311
GB/T 20725—2006 波谱法定性点分析电子探针显微分析导则 326