可靠性与环境试验参考资料 IEEE可靠性物理年会论文集选编 2

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加速试验技术 1

一种预测电迁移失效敏感性的可靠性工具——欧姆非线性脉冲技术的评价 1

步进应力在评价与时间有关的击穿问题上的应用 7

高加速温、湿度应力试验技术（HAST） 13

失效机理及封装可靠性 17

陶瓷电容器在低压直流应力下的漏电失效机理 17

氮化硅密封对MOS器件稳定性的影响 25

可靠性检测技术 33

一种利用集成电路芯片来测量电路封装体内相对湿度的简单方法 33

定量测量塑料封装引起的集成电路内应力的新方法 43

一种利用液晶检测半导体器件热点的方法 51

用容限电压测量来检测和判定数字微电路的缺陷 54

MOS器件静电放电灵敏度的检测方法 65

其他 69

芯片粘接界面的物理性质 69