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- 作 者：陈兆龙编
- 出 版 社：清华大学微电子研究所
- 出版年份：2222
- ISBN：
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第一章 绪论 1
1.1 LSI的发展 1
1.2 对测试的要求 2
1.3 测试的目的 6
1.4 电学性能测试 8
第二章 半导体随机存贮器的测试 11
2.1 RAM的简介 11
2.2 存贮器的主要故障 16
2.3 测试图案 20
2.4 再生间隔时间的测试 39
第三章 微处理器的测试 45
3.1 微处理器简介 45
3.2 基本测试方法 63
3.3 LEAD方法及VALLD策略 67
第四章 测试数据的简化与分析 79
4.1 测试数据简化的必要性 79
4.2 测试数据的简化方法 79
4.3 测试数据的统计分析 87
4.4 关于数据分析软件 95
第五章 LSI测试仪 98
5.1 测试仪的主要组成部分 98
5.2 算法图案产生器 103
5.3 存贮式图案产生器 114
5.4 定时信号产生器 121
5.5 波形模式控制器 125
5.6 管脚驱动器 128
5.7 定时校正电路 131
5.8 失效分析存贮器 134
5.9 直流测量单元 138
5.10 时间测量单元 139