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- 作 者：吴杏芳，柳得橹编
- 出 版 社：北京：冶金工业出版社
- 出版年份：1998
- ISBN：7502422021
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1.透射电镜的基本结构和操作 1
2.透射电镜的试样制备 6
3.选区电子衍射及像转角的测定 14
4.电子衍射谱衍射常数的测定 17
5.单晶体电子衍射谱的拍摄与分析 18
6.菊池花样的分析和应用 29
7.晶体取向关系的测定 38
8.特征平面的分析 39
9.位错线方向及柏氏矢量b的测定 42
10.层错性质的判断 46
11.薄膜试样厚度的测定 50
12.扫描电镜的基本原理与实验方法 55
13.块状试样的X射线能谱分析(一)——定性分析 61
14.块状试样的X射线能谱分析(二)——定量分析 68
15.薄试样的X射线能谱分析 77
16.电子能量损失谱分析(EELS) 92
17.会聚束电子衍射(CBED)方法 103
18.薄试样厚度和消光距离的CBED测定 112
19.晶体点群的会聚束衍射测定 115
附录 120
参考书目 128