- 作 者：杨淑珍，周和平主编
- 出 版 社：武汉：武汉工业大学出版社
- 出版年份：1991
- ISBN：7562904936
- 标注页数：200 页
- PDF页数：205 页
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实验一 X射线劳埃法及单晶定向 1
实验二 X射线衍射技术与定性相分析 9
实验三 X射线定量相分析 19
实验四 高中级晶族晶体衍射线的指标化 32
实验五 低级晶族晶体衍射线的指标化 40
实验六 点阵常数的精确测定 54
实验七 多晶X射线结构分析 62
实验八 多晶材料择优取向的测定 70
实验九 晶粒大小与晶格畸变的测定 75
实验十 透射电镜及试样显微电子图象观察 83
实验十一 选区电子衍射分析 96
实验十二 扫描电镜及试样的显微电子图象观察 110
实验十三 X射线显微成分分析 116
实验十四 差热分析 127
实验十五 差示扫描量热分析 134
实验十六 热重分析与综合热分析 140
实验十七 矿物的红外光谱测绘 147
实验十八 红外光谱定性分析 152
实验十九 激光拉曼光谱分析 156
参考文献 161
附录1 元素特征X射线的波长λ和能量E 162
附录2 矿物中主要元素对常用靶Ko辐射的质量吸收系数μm 166
附录3 等轴、四方、六方晶系衍射指数平方和表 170
附录4 sin2θ值和cos2θ值表 175
附录5 1/2(cos2θ/sinθ+cos2θ/θ)值表 178
附录6 洛伦兹-偏正因子数值 181
附录7 各晶系多晶试样的多重性因子数值 184
附录8 sinθ/λ的数值 185
附录9 原子散射因子 188
附录10 可能出现重叠峰的元素和线系 191
附录11 标准电子衍射图 193
附录12 常见无机化合物基团特征频率表 199