- 作 者：马承志编著
- 出 版 社：北京：人民邮电出版社
- 出版年份：1985
- ISBN：15045·总2971无6311
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第一章 测试原理 1
第一节 调制器、解调器的直线性 1
目录 1
第二节 群时延特性 7
第三节 微分增益特性 13
第四节 微分相位特性 16
第五节 调制器、解调器的灵敏度测试（频偏测试） 18
第六节 幅频特性的测试 23
第七节 回波损耗的测试 25
第八节 调幅调相转换系数的测试 29
第一节 概述 43
第二章 仪表的工作原理和组成 43
第二节 仪表的组成 46
第三节 仪表的用途 62
第四节 各单元的工作原理 68
一、基带振荡器 68
二、中频扫频振荡器 73
三、中频接收机 83
四、基带接收机 92
五、示波管显示单元 95
第三章 检验、校准与修理 96
第一节 性能和检验 96
第二节 校准 99
第三节 修理 102
一、概述 102
二、仪表故障排除流程图 105
三、各单元的故障分析及修理 113
第四章 射频频带微波系统分析仪 123
第一节 仪表的主要性能指标 123
第二节 仪表的构成 127
第三节 工作原理 134
第五章 新式的微波系统分析仪 140
第一节 概述 140
第二节 新仪表的特点 141
第三节 标准化功能 149
第四节 应用扫描法的基带振幅特性测量 151
第五节 中频扫频信号发生器的中频频率显示原理 152
第六节 ME538微波系统分析仪的工作原理及构 154
成 154
附录一 安立公司ME525A/B/C仪表的主要技术指 157
标 157
附录二 惠普（HP）公司3711A/3712A仪表的主要技术指标 160
附录三 微分相位与群时延之间的互相换算表 162
附录四 频偏计算表 163
附录五 回波损耗、反射系数、电压驻波比之间的关系 164
参考资料 166