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化学分析  第5辑  超纯物质分析专辑
  • 作 者:汪厚基
  • 出 版 社:上海市科学技术编译馆
  • 出版年份:1965
  • ISBN:
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目 录 1

1.痕量金属低化学计量测定法 1

2.在无机痕量分析中应用极谱法的可能性 4

3.氧化锗和金属锗中杂质的化学测定法 10

4.测定锗及二氧化锗中杂质的化学光谱法 20

5.用示波极谱法测定高纯金属锗中铜、铅、锌、镍、铁和银 22

6.二氧化锗中砷的测定 30

7.测定半导体中微量碳的一种新方法:对硅和锗的应用 35

8.用真空熔化法测定真空熔炼钢、钼及单晶硅中的氧 37

9.高纯铋的化学-光谱分析 44

10.硒中铜、镉、铊、铅、碲及铁的极谱测定 47

11.金属锑中锡的测定 49

12.高纯镍的光谱分析 54

13.甲基紫共沉淀-极谱法测定镍基合金中的杂质 57

14.锆和其化合物中杂质的光谱分析 59

15.关于分析锆和铪的方波极谱 63

16.高纯铂中痕量杂质的直接光谱测定 67

17.燃烧-分光光度法测定金属中痕量的硫 72

18.利用副玫瑰苯胺-甲醛的分光光度法测定粗铜和精铜中的硫 77

19.微量硒的萤光测定法 81

20.富锌物质中痕量镉的测定 86

21.金属铅与金属锌中铟的极谱测定 91

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