- 作 者：地质部书刊编辑室编辑
- 出 版 社：北京：地质出版社
- 出版年份：1981
- ISBN：15038·新508
- 标注页数：231 页
- PDF页数：236 页
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X射线光谱测定中数学校正法的述评 1
实用X射线光谱学中的经验基体校正 9
基本参数法荧光X射线光谱定量分析 20
二次源、能量色散X射线光谱仪及其在定量分析化学中的应用 37
混合、稀释、加入法的评述及共理论上可能的扩展Ⅰ 44
岩石X射线荧光分析中的增强效应 62
论用伪观X射线强度优化回归方程 68
在岩石样品X射线荧光分析中使用“曲线拟合计算机程序”补偿元素间 72
效应——地质样品中钒的测定 72
地质原料X射线荧光分析的模型、方程和校正因子 76
等效波长的概念、定义、特性和应用 84
荧光X射线强度式中原级X射线的贡献率及其在定量分析中的应用 99
电子计算机在X射线荧光分析中的应用 107
使用配置计算机的自动X射线光谱仪定量分析选定的微量和痕量元素 111
元素间效应严重存在时用X射线荧光法准确测定主组分 123
岩石中痕量元素的X射线光谱分析仪器干扰的校正 136
在荧光X射线光谱法中靶元素散射背景强度的校正方法 147
对于邻苯二甲酸铷分光晶体变质的一些说明 151
Ge（111）分光晶体的特性 153
锑化铟X射线单色器 156
由AgKa康普顿散射辐射强度的测量来确定X射线质量吸收系数 160
岩石样品痕量元素分析中用AgKa康普顿散射辐射校正基体效应 166
螯合离子交换树脂和X光荧光 174
树脂填充纸——对于取样和标准化的一种万能介质 179
X光谱分析现状（述评） 186
工业X射线光谱分析的自洽校正方法 197
多组份样品中荧光强度与分析元素浓度关系的研究 211
用于X射线发射定量分析的一种多用途薄膜方法 219
某些标准岩石样品中Rb/Sr,87Sr/86Sr比值的测定和X射线荧光光谱法在Rb-Sr地球化学中的应用 225