- 作 者：阎照文著
- 出 版 社：北京：科学出版社
- 出版年份：2018
- ISBN：9787030576873
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第1章 信号完整性 1
1.1概述 1
1.2信号完整性关注的主要问题 3
1.3本书内容介绍 16
参考文献 17
第2章 传输线端接 18
2.1概述 18
2.2反弹图 18
2.3端接的方法 21
2.4短串接传输线的反射 24
2.5短桩线传输线的反射 26
2.6容性突变产生的反射 27
2.7感性突变引起的反射 29
2.8补偿 30
2.9差分信号 32
2.10差分信号端接 34
2.11工程案例分析 43
参考文献 49
第3章 串扰 50
3.1概述 50
3.2电容和电感矩阵 50
3.3近端串扰 53
3.4远端串扰 60
3.5串扰对时序的影响 62
3.6降低串扰的措施 66
3.7从差分对模型解释串扰 66
3.8差分信号的串扰 67
3.9工程案例分析 70
参考文献 74
第4章 介质影响 75
4.1损耗源 75
4.2损耗角和复介电常数 79
4.3信号上升沿退化 82
参考文献 88
第5章 电源完整性 89
5.1概述 89
5.2目标阻抗及去耦 89
5.3PDN 94
5.4谐振分析 101
5.5工程案例分析 106
5.6电磁带隙结构 111
参考文献 128
第6章 布线和叠层 129
6.1概述 129
6.2单层板和双层板 129
6.3四层板 130
6.4多层板 131
6.5布线 135
参考文献 145
第7章 混合信号布线和分割 146
7.1低速、高速分区 146
7.2数模信号布线 149
7.3不同电源分割平面 154
参考文献 161
第8章 PCB接地 163
8.1 0V参考面搭接 163
8.2接地 175
参考文献 180
第9章 PCB滤波 181
9.1滤波器 182
9.2铁氧体滤波 183
9.3共模扼流圈滤波 186
9.4RLC网络滤波 188
9.5微波滤波器 196
9.6IC引脚去耦 198
参考文献 201
第10章 PCB屏蔽 202
10.1屏蔽效能 202
10.2机箱屏蔽 207
10.3元件屏蔽 212
10.4防护布线 214
10.5腔体谐振与屏蔽接地 217
参考文献 220
第11章 连接器和I/O 221
11.1封装 221
11.2信号连接器 224
11.3背板 237
11.4CMOS输出缓冲器模型 238
11.5CMOS接收机模型 242
参考文献 243
第12章 IBIS模型 244
12.1概述 244
12.2IBIS模型测试方法 248
12.3IBIS模型建立方法 260
参考文献 269
第13章 PCB电磁辐射分析方法 270
13.1概述 270
13.2器件辐射 270
13.3线缆的辐射 272
13.4PCB上传输线辐射 285
13.5限制辐射发射技术 289
13.6多板系统的辐射计算 297
13.7干扰源建模原理与方法研究 305
参考文献 313
第14章 PCB电磁敏感性分析方法 314
14.1概述 314
14.2干扰源模型的建立方法 315
14.3传输通道的建模方法 320
14.4敏感元器件的建模方法 337
参考文献 374
第15章 数据完整性 376
15.1噪声、抖动与数据完整性 376
15.2高速链路抖动与数据完整性机理 380
15.3符号间干扰与数据完整性 382
15.4符号间干扰均衡原理 386
参考文献 389
第16章 信号完整性测试方法 390
16.1概述 390
16.2阻抗分析仪的测试 390
16.3矢量网络分析仪的测试 393
16.4时域反射仪的测试 398
16.5近场测试探头研制 404
参考文献 427