- 作 者：孙淑艳，柳赟主编；黄晓明，赵东，刘春颖编写
- 出 版 社：北京：中国电力出版社
- 出版年份：2017
- ISBN：9787519811006
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绪论 1
第1章 常用电子仪器仪表 3
1.1 示波器 3
1.2 信号发生器 17
1.3 数字万用表 28
1.4 数字电路实验系统 32
第2章 NI Multisim 12使用指南 34
2.1 NI Multisim 12简介 34
2.2 NI Mutisim 12的基本操作界面 35
2.3 元器件库 36
2.4 仪器仪表库 38
2.5 NI Multisim 12的基本操作 49
第3章 数字电路基础实验 66
实验一 TTL集成逻辑门电路的逻辑功能测试及其应用 66
实验二 TTL集成逻辑门电路参数特性测试 73
实验三 编码器、译码器和数据选择器 83
实验四 集成触发器及其应用 95
实验五 集成计数器及其应用 107
实验六 移位寄存器及应用 111
实验七 555定时器及其应用 117
实验八 D/A转换器和A/D转换器 123
第4章 数字电路仿真实验 130
实验一 TTL集成逻辑门电路的逻辑变换 130
实验二 血型关系检测电路的设计 138
实验三 计数、译码和显示电路 144
实验四 交通控制器的设计 152
实验五 集成计数器的应用 154
实验六 移位寄存器的应用 158
实验七 脉冲信号的产生与整形 162
实验八 D/A转换器与A/D转换器转换电路 170
附录A 数字电路实验的操作规范和常见故障检测方法 179
附录B 集成电路简介 181
附录C 集成逻辑电路的连接和驱动 183
附录D 集成逻辑门电路新、旧图形符号对照 185
附录E 集成触发器新、旧图形符号对照 186
附录F 常用数字集成电路型号及引脚图 187
附录G 面包板和万用板 191
参考文献 195