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- 作 者：（美）H.Y.张等著；飞信，灿贤译
- 出 版 社：北京：国防工业出版社
- 出版年份：1976
- ISBN：15034·1517
- 标注页数：166 页
- PDF页数：170 页
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目录 5
第一章 引言 5
第二章 背景 8
2.1 定义和假设 8
2.2 历史背景 16
2.3 分析背景 18
第三章 测试的产生、选择和检验 26
3.1 产生测试的方法——组合电路 27
3.2 产生测试的方法——时序电路 59
3.3 测试最小化的方法 72
3.4 故障模拟方法 88
第四章 时序分析程序 97
4.1 分析程序的功能 97
4.2 分析程序的工作 100
4.3 程序结构 116
4.4 分析程序的应用 125
第五章 故障字典 135
5.1 引言 135
5.2 严格匹配字典 136
5.3 辅助方法 140
5.4 综合 147
5.5 结束语 149
第六章 新近的发展动向 151
6.1 数字故障模拟技术的新动向 151
6.2 其他领域的新发展 157
6.3 未来的预测 161
参考资料 162