- 作 者：中国科学技术情报研究所编辑
- 出 版 社：北京：科学技术文献出版社
- 出版年份：1978
- ISBN：15176·255
- 标注页数：199 页
- PDF页数：206 页
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第一章 统计的概念 1
1．1 统计的概念 1
前言 1
1．2 数据的性质 3
1．3 散差的原因 4
第二章 频数分布 6
2．1 频数表 6
2．2 频数图 10
2．3 分层 13
2．4 巴氏曲线 16
2．5 易产生缺陷之处的调查方法 16
2．6 分散的加法性 17
3．1 几率（概率） 20
第三章 计数值 20
3．2 不合格个数的几率分布（二项式分布） 31
3．3 不合格率的推定 36
3．4 缺陷数的分布（泊松分布） 38
3．5 缺陷数的推定 41
3．6 百分率的推定（推算纸） 42
3．7 符号检定 45
3．8 不合格率之差的检定（分割表） 48
第四章 母平均的推测（σ已知） 56
4．1 正态分布 56
4．2 母平均产μ的推定（σ已知） 67
4．3 关于母平均μ的假设之检定（σ已知） 77
4．4 平均差的推定与检定（σ已知） 83
4．5 取样 86
第五章 分散的推测 95
5．1 不偏分散 95
5．2 母分散的检定 102
5．3 分散不同的推定与检定 110
5．4 用范围作的推定与检定 114
第六章 母平均的推测（σ未知） 122
6．1 母平均μ的检定 122
6．2 母平均差的推定与检定 129
第七章 2变量间的关系 134
7．1 2元频数分布 134
7．2 相关系数 140
8．1 一元排列（母参数模型） 149
第八章 实验数据的分布 149
8．2 一元排列（变量模型） 158
8．3 二元排列（不重复） 164
8．4 二元排列（有重复） 171
8．5 分枝排列（多级排列） 182
附录： 188
x■表 189
正态分布表 190
F表（1） 191
F表（2） 192
t表 193
r表 194
Z变换表 195
术语与解释 196