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数字系统诊断与综合
  • 作 者:郑崇勋编
  • 出 版 社:西安:西安交通大学出版社
  • 出版年份:1987
  • ISBN:756050017X
  • 标注页数:298 页
  • PDF页数:308 页
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第一章 集合、格与布尔代数 1

1—1 集合 1

目录 1

1—2 偏序集 4

1—3 格 8

1—4 布尔代数及其性质 11

1—5 布尔函数及其标准式 16

练习 19

参考文献 22

2—1 开关代数和开关函数 23

第二章 矢量开关代数 23

2—2 矢量开关代数和矢量开关函数 26

2—3 矢量开关函数的标准形式 32

2—4 矢量开关代数在逻辑设计中的应用前景 35

练习 37

参考文献 38

第三章 布尔微分学及其它逻辑系统 40

3—1 布尔导数及偏导数 40

3—2 布尔微分 46

3—3 布尔导数和偏导数的计算 49

3—4 多值逻辑 52

3—5 模糊逻辑概述 55

练习 59

参考文献 60

第四章 数字电路故障分析 62

4—1 故障的定义与分类 62

4—2 故障原因及对策 66

4—3 逻辑故障模型 72

4—4 组合逻辑故障分析 75

4—5 时序逻辑故障分析 79

4—6 小结 83

练习 84

参考文献 86

第五章 组合逻辑诊断 87

5—1 概论 87

5—2 通路敏化法 93

5—3 布尔差分法 98

5—4 D算法 100

5—5 路向判决法 109

5—6 多故障分析及冗余电路诊断 114

5—7 小结 120

练习 121

参考文献 124

第六章 时序逻辑诊断 126

6—1 概述 126

6—2 时序电路的组合化测试法 128

6—3 线路—时间方程 135

6—4 时序机的功能测试——试验法 142

练习 153

参考文献 155

7—1 自检测电路 157

第七章 数字系统的可靠性设计 157

7—2 检错码和纠错码 162

7—3 容错设计 170

7—4 易测性设计 176

练习 188

参考文献 189

第八章 组合逻辑综合 192

8—1 门级逻辑综合 192

8—2 通用中、大规模集成电路介绍 196

8—3 用数据选择器的组合逻辑设计 199

8—4 用ROM的组合逻辑设计 203

8—5 用PLA的组合逻辑设计 212

8—6 计算机辅助组合逻辑综合 219

练习 227

参考文献 229

第九章 时序逻辑综合 231

9—1 概述 231

9—2 划分及划分代数 236

9—3 置换性划分与格 238

9—4 状态化简 243

9—5 状态分配 251

9—6 时序机的分解 260

9—7 小结 267

练习 268

参考文献 270

第十章 数字系统设计 272

10—1 概述 272

10—2 由顶向下的设计方法 274

10—3 控制器设计 277

10—4 微程序控制器的设计 289

10—5 小结 295

练习 296

参考文献 298

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