- 作 者：李能贵著
- 出 版 社：西安：西安交通大学出版社
- 出版年份：1990
- ISBN：7560502962
- 标注页数：173 页
- PDF页数：182 页
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第一章 可靠性的基本概念及其主要数量特征 1
1—1 可靠性定义 1
1—2 可靠性研究的重要性 2
1—3 可靠性常用术语和主要特征量 2
1—4 可靠性数据的搜集 6
习题 8
参考资料 8
第二章 电子元器件的失效规律及常用概率纸的结构和用法 9
2—1 电子元器件的失效规律 9
2—2 威布尔分布 10
2—3 指数分布——偶然失效期的失效分布 19
2—4 正态分布或高斯分布 20
习题 26
参考资料 27
第三章 可靠性试验及数据处理方法 28
3-1 可靠性试验的分类 28
3—2 指数分布情况的寿命试验 32
3—3 恒定应力加速寿命试验 42
3—4 可靠性筛选试验 59
3—5 电子元器件失效率鉴定试验 74
3—6 失效分布类型的检验 81
3—7 抽样理论及抽样方法 86
习题 93
参考资料 95
4—1 失效物理的目标和作用 96
第四章 电子元器件的失效物理基础 96
4—2 材料的结构、应力和失效 97
4—3 失效物理模型 100
4—4 失效物理的应用 104
参考资料 105
第五章 失效分析方法 106
5—1 失效分析的目的和内容 106
5—2 失效分析程序和失效分析的一般原则 107
5—3 常用微观分析设备概述 113
5—4 半导体器件的失效机理及其分析 114
5—5 电阻器的失效机理与分析 118
5—6 电容器的失效机理与分析 125
5—7 接触元件失效机理与分析 131
5—8 磁性器件失效机理与分析 138
5—9 敏感器件失效机理与分析 143
参考资料 146
第六章 可靠性管理 149
6—1 可靠性数据资料管理 149
6—2 可靠性计划 150
6—3 设计阶段的可靠性管理 152
6—4 制造阶段的可靠性管理 153
6—5 可靠性增长管理 154
6—6 可靠性监督和可靠性保证体系 156
参考资料 158
附录 159