- 作 者：戴树森编
- 出 版 社：北京：国防工业出版社
- 出版年份：1984
- ISBN：15034·2613
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目录 1
第十二章 极大似然估计 1
§12.1极大似然估计 1
§12.2完全寿命试验中参数的极大似然估计 6
§12.3定时、定数截尾寿命试验中参数的极大似然估计 18
§12.4定时测试截尾寿命试验中参数的极大似然估计 33
§12.5恒定应力加速寿命试验中参数的极大 44
似然估计（Ⅰ）——威布尔分布情况 44
§12.6恒定应力加速寿命试验中参数的极大 55
似然估计（Ⅱ）——对数正态分布情况 55
附录 极大似然估计方法中的数值计算问题 67
附表 82
参考资料 94
第十三章 关于指数分布的某些统计推断 96
§13.1前言 96
§13.2关于单参数指数分布的点估计 98
§13.3关于单参数指数分布的区间估计 125
§13.4单参数指数分布的可靠度R（t0）的最小方差无偏估计量 162
§13.5两参数指数分布的点估计 163
§13.6两参数指数分布的区间估计 173
§13.7对θ=θ0（或λ=λ0）的假设检验 179
（单参数指数分布的情形） 179
§13.8对θ1=θ2（或λ1=λ2）的假设检验 245
（单参数指数分布的情形） 245
§13.9对θ1=θ2=…=θk的假设检验（单参数指数分布的情形） 247
§13.10对是否符合指数分布的检验 251
附录 257
附录13-1尼曼-皮尔逊（Neyman--Pearson）引理 257
附录13-2关于检验简单的原假设H0和简 258
单的备择假设H1的序贯概率比检验 258
附表和附图 260
参考资料 301
§14.1引言 305
第十四章 假设检验 305
§14.2分布的检验 308
§14.3用似然比检验区分两个具有未知位置参数和尺度参数的分布 324
§14.4分布函数的偏度和峰度检验 333
§14.5参数的假设检验 339
§14.6数据是否来自同一分布的检验——异常数据检验 360
附表 384
参考资料 394
第十五章 可靠性抽样验证试验 397
§15.1引言 397
§15.2指数分布的失效率试验 398
§15.3失效率、置信度、允许失效数和总试验时间的关系 408
§15.4威布尔分布的抽样验证试验 411
参考资料 441
§16.1引言 442
第十六章 可靠性筛选 442
§16.2筛选时间的确定 445
§16.3应力强度模型 454
§16.4线性判别筛选 465
附录0，1回归分析与线性判别分析的等价性 483
参考资料 486
第十七章 加速寿命方程的物理分析 487
§17.1引言 487
§17.2阿伦尼斯方程 487
§17.3简单电真空器件失效机理的分析 501
§17.4半导体器件金属化部分失效机理与阿伦尼斯方程的关系 513
附录 525
附录17-1分子的碰撞频率 525
附录17-2计算激活能△E及K值实例 527
附录17-3绝对反应速度理论 529
参考资料 532