- 作 者：李哲，祖光裕等编著
- 出 版 社：天津：天津大学出版社
- 出版年份：1991
- ISBN：7561802587
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目录 1
第一章 绪论 1
第二章 可靠性概述及其主要数量特征 7
§2.1 可靠性数据的收集 7
§2.2 可靠性数据的统计特性 11
§2.3 可靠性与可靠度的概念 12
§2.4 产品失效的特征量 14
§2.5 产品的寿命特性 19
§2.6 电子元器件的失效分布 23
习题 32
第三章 可靠性试验 34
§3.1 可靠性试验的目的和分类 34
§3.2 环境试验 35
§3.3 可靠性筛选 38
§3.4 例行试验与鉴定验收试验 44
习题 45
第四章 寿命试验、加速寿命试验及其数据处理 46
§4.1 寿命试验及其分类 46
§4.2 利用威布尔概率纸进行数据处理 47
§4.3 利用威布尔概率纸估计寿命特征值 53
§4.4 最佳线性无偏估计与简单线性无偏估计 57
§4.5 加速寿命试验 66
习题 70
第五章 抽样检查 72
§5.1 概述 72
§5.2 计数抽样检查的理论依据 73
§5.3 抽检特性曲线及特性函数 75
§5.4 计数抽样检查方案 77
§5.5 失效率抽样检查及其试验方法 82
习题 88
§6.1 失效分析的目的和程序 89
第六章 电子元器件的失效分析 89
§6.2 失效模式和失效机理 92
§6.3 失效物理模型 100
§6.4 电子元器件失效分析实例 105
习题 112
第七章 可靠性质量管理 113
§7.1 概述 113
§7.2 原材料及环境的质量控制 117
§7.3 生产过程中的质量控制 119
参考书目 136