- 作 者：李哲，祖光裕等编著
- 出 版 社：天津：天津大学出版社
- 出版年份：1991
- ISBN：7561802587
- 标注页数：136 页
- PDF页数：141 页
请阅读订购服务说明与试读!
订购服务说明
1、本站所有的书默认都是PDF格式，该格式图书只能阅读和打印，不能再次编辑。
2、除分上下册或者多册的情况下，一般PDF页数一定要大于标注页数才建议下单购买。【本资源141 ≥136页】
图书下载及付费说明
1、所有的电子图书为PDF格式，支持电脑、手机、平板等各类电子设备阅读；可以任意拷贝文件到不同的阅读设备里进行阅读。
2、电子图书在提交订单后一般半小时内处理完成,最晚48小时内处理完成。(非工作日购买会延迟)
3、所有的电子图书都是原书直接扫描方式制作而成。
目录 1
第一章 绪论 1
第二章 可靠性概述及其主要数量特征 7
§2.1 可靠性数据的收集 7
§2.2 可靠性数据的统计特性 11
§2.3 可靠性与可靠度的概念 12
§2.4 产品失效的特征量 14
§2.5 产品的寿命特性 19
§2.6 电子元器件的失效分布 23
习题 32
第三章 可靠性试验 34
§3.1 可靠性试验的目的和分类 34
§3.2 环境试验 35
§3.3 可靠性筛选 38
§3.4 例行试验与鉴定验收试验 44
习题 45
第四章 寿命试验、加速寿命试验及其数据处理 46
§4.1 寿命试验及其分类 46
§4.2 利用威布尔概率纸进行数据处理 47
§4.3 利用威布尔概率纸估计寿命特征值 53
§4.4 最佳线性无偏估计与简单线性无偏估计 57
§4.5 加速寿命试验 66
习题 70
第五章 抽样检查 72
§5.1 概述 72
§5.2 计数抽样检查的理论依据 73
§5.3 抽检特性曲线及特性函数 75
§5.4 计数抽样检查方案 77
§5.5 失效率抽样检查及其试验方法 82
习题 88
§6.1 失效分析的目的和程序 89
第六章 电子元器件的失效分析 89
§6.2 失效模式和失效机理 92
§6.3 失效物理模型 100
§6.4 电子元器件失效分析实例 105
习题 112
第七章 可靠性质量管理 113
§7.1 概述 113
§7.2 原材料及环境的质量控制 117
§7.3 生产过程中的质量控制 119
参考书目 136