- 作 者：杨士元编著
- 出 版 社：北京：清华大学出版社
- 出版年份：1989
- ISBN：7302004374
- 标注页数：330 页
- PDF页数：338 页
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目录 1
第一章 绪论 1
1.1 发展概况 1
1.2 故障和故障模型 6
1.3 自动测试和故障诊断与检测 13
1.4 有关异或运算的一些问题 15
参考文献 18
第二章 组合逻辑电路的测试 19
2.1 伪穷举法 19
2.2 布尔差分法 28
2.3 D算法 39
2.4 特征分析法 58
2.5 因果函数分析法 74
2.6 其它测试方法介绍 79
2.7 故障的合并和压缩 91
2.8 测试矢量集的极小化 94
本章小结 102
参考文献 103
第三章 时序电路的测试 105
3.1 同步时序电路测试 105
3.2 九值算法及其改进 110
3.3 M0 M1算法 121
3.4 H算法 131
3.5 异步时序电路的其它测试方法介绍 141
3.6 时序电路的功能测试 149
本章小结 154
参考文献 155
第四章 故障仿真 156
4.1 并行故障仿真 157
4.2 演绎故障仿真 159
4.3 并发性故障仿真 167
4.4 硬件仿真器 169
本章小结 172
参考文献 173
第五章 可测性设计 174
5.1 可测性设计的意义和发展情况 174
5.2 可测性度量 176
5.3 改善组合电路可测性的一般方法 193
5.4 扫描电路设计 207
5.5 内测试 213
5.6 可测性设计的一般性措施 219
5.7 PLA的故障检测与可测性设计 225
本章小结 245
参考文献 246
第六章 可靠性设计 248
6.1 可靠性的基本概念 248
6.2 故障容错技术 253
6.3 编码检错技术 265
6.4 软件容错技术 275
6.5 自检测试设计 279
6.6 事故安全设计 303
本章小结 308
参考文献 309
习题 311
部分习题答案或提示 321
附录 329