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半导体器件参数测试自动化
  • 作 者:(苏)Ю.С.卡尔普主编;蔡连超,程文霖译
  • 出 版 社:北京:国防工业出版社
  • 出版年份:1966
  • ISBN:
  • 标注页数:168 页
  • PDF页数:172 页
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目录 5

中功率脉冲晶体管自动分类机 5

晶体管集电极电容Cк和集电极-基极回路时间常数rбCк的高稳定性晶体管化测量电路 16

半导体结反向电流漂移的测量 26

晶体管脉冲状态放大系数Bимп的自动测量 38

脉冲晶体管时间特性的测量 51

中功率脉冲晶体管寿命试验自动参数测量仪 60

隧道二极管直流参数的直接测量方法 71

小功率p-n-p晶体管寿命试验台 89

小功率p-n-p晶体管寿命试验台的供电系统 95

晶体管连接到自动参数测量部件的转换器 106

小功率p-n-p晶体管Iко的自动测量 114

小功率p-n-p晶体管β参数的自动测量 126

小功率p-n-p晶体管1-α参数的自动测量 132

小功率晶体管极限振荡频率分类仪 145

高压整流二极管击穿电压的自动测定 149

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