- 作 者：《半导体器件可靠性》编写组编
- 出 版 社：北京：国防工业出版社
- 出版年份：1978
- ISBN：15034·1635
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目录 6
引言 6
第一章 可靠性的基础知识 11
§1 数学预备知识 11
§2 可靠性的定义和数学描述 18
§3 器件的失效规律和常用的寿命分布 22
第二章 抽样检验 28
§1 关于两类错误 29
§2 单式计件抽样 31
§3 复式计件抽样和序贯计件抽样简介 38
§4 计量抽样简介 41
§5 各种抽样方法的比较 44
§6 寿命试验的抽样问题 48
第三章 可靠性试验 50
§1 概述 50
§2 环境实验 53
§3 寿命试验 66
§4 加速试验 68
§5 特殊试验 88
§6 使用试验 91
§7 可靠性筛选 92
§8 可靠性考核和鉴定 106
§9 数据处理 109
§1 目的和内容 124
第四章 失效分析 124
§2 失效模式 126
§3 失效机理 133
§4 MOS电路和大规模集成电路的失效机理 155
§5 辐射引起的失效 159
§6 失效分析方法 164
第五章 设计与工艺中的可靠性考虑 175
§1 设计中的可靠性考虑 175
§2 提高可靠性的工艺措施 194
§3 防止功率器件热烧毁 220
§4 提高器件的抗辐射性能 226
§1 质量控制的内容 230
第六章 质量控制 230
§2 环境控制 232
§3 工艺监控方法 238
§4 质量控制图 264
第七章 系统可靠性 280
§1 可靠性逻辑框图和数学模型 280
§2 简单系统的可靠性计算（数学模型） 283
§3 可靠性预计 298
§4 可靠性分配 312
附录 Ⅰ 抽样表、常用分布表、系数f值表 320
附录 Ⅱ 国内外集成电路的镜检标准参考 351
附录 Ⅲ 系统可靠性计算用若干公式的推导 361