- 作 者：奥塞夫（P.J. Ouseph）著；姬成周译
- 出 版 社：北京：科学出版社
- 出版年份：1980
- ISBN：13031·1232
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第一章 绪论 1
第二章 核辐射及其与物质的相互作用 6
2.1 放射现象 6
2.2 放射性强度的计算 9
2.3 核反应所产生的放射性强度的计算 13
2.4 带电重粒子与物质的相互作用 18
2.5 电子与物质的相互作用 28
2.6 电子的反散射 32
2.7 γ射线和x射线与物质的相互作用 34
2.8 中子与物质的相互作用 40
2.9 宇宙射线 42
参考文献 42
参考书目 43
第三章 气体计数器 44
3.1 气体计数器的一般特性 44
3.2 电离计数器 48
3.3 空气壁电离室 49
3.4 袖珍剂量计 50
3.5 脉冲型电离计数器 51
3.6 正比计数器 56
3.7 位置灵敏正比计数器 62
3.8 中子计数器 63
3.9 盖革-弥勒计数管 65
3.10 计数管气体 70
3.11 用盖革计数管探测α射线和β射线 72
3.12 用气体计数器探测x射线和γ射线 73
3.13 内计数法的应用 76
参考文献 77
参考书目 78
第四章 闪烁计数器 79
4.1 闪烁计数装置的一般特性 79
4.2 闪烁材料和闪烁机理 81
4.3 光电倍增管 89
4.4 脉冲的形状 94
4.5 闪烁计数器组件 95
4.6 脉冲幅度与核辐射能量的关系 96
4.7 用闪烁计数器探测γ射线 98
4.8 积分计数法 102
4.9 微分计数法和γ射线能量的测定 104
4.10 闪烁计数器探测γ射线的效率 108
4.11 闪烁探测器的能量分辨率 111
4.12 用闪烁计数器探测带电粒子 113
4.13 中子的探测 114
4.15 用于粒子鉴别和甄别的其他方法 117
4.14 使用脉冲形状甄别的粒子鉴别法 117
参考文献 119
参考书目 120
第五章 半导体探测器 121
5.1 半导体探测器的工作原理 121
5.2 杂质半导体 125
5.3 探测器类型 132
5.4 脉冲形状和上升时间 139
5.5 影响能量分辨率的因素 140
5.7 带电粒子的探测 145
5.6 辐射损伤 145
5.8 x射线和γ射线的探测 148
5.9 中子探测器 151
5.10 其他应用 151
5.11 专用方法 154
5.12 结论 156
参考文献 157
参考书目 157
第六章 辐射计数的校正 158
6.1 引言 158
6.2 绝对放射性强度的测定 166
6.3 衰变过程的随机特性 168
6.4 频谱分布 169
6.5 核粒子计数方法的统计误差 173
参考文献 175
参考书目 175
附录：精选的物理常数和变换系数 176