- 作 者：张世箕
- 出 版 社：北京：电子工业出版社
- 出版年份：1994
- ISBN：7505324659
- 标注页数：283 页
- PDF页数：296 页
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第一章 数据域测试的基本概念 7
第一节 数字系统的测试 7
第二节 穷举测试法 16
第三节 故障表方法 23
第二章 组合逻辑电路的测试 35
第一节 通路敏化 35
第二节 d算法 41
第三节 临界通路法 55
第四节 布尔差分法 56
第五节 故障字典 68
第三章 时序逻辑电路的测试 73
第一节 迭接电路法 73
第二节 时序故障表法 79
第三节 状态变迁检查法 87
第四节 时延测试 94
第四章 微机系统的测试 104
第一节 存贮器的测试 104
第二节 微处理器的测试 113
第三节 利用被测系统的应用程序进行测试 123
第四节 利用总线观察进行测试 133
第五章 数字系统的计算机辅助测试 135
第一节 计算机辅助测试的基本概念 135
第二节 d算法程序 138
第三节 扩展d算法程序 142
第四节 PODEM算法 149
第五节 微处理器测试产生程序 152
第六节 故障模拟 157
第六章 可测性设计 164
第一节 可测性的测度 165
第二节 可测性设计方法 170
第三节 组合电路的异或门串联结构 178
第四节 内测试设计 181
第五节 边缘扫描技术 187
第七章 数据域测试仪器 198
第一节 简易逻辑测试仪 198
第二节 特征分析仪 201
第三节 逻辑分析仪 213
第四节 GP-IB母线分析仪 240
第五节 数据信号发生器 248
第六节 开发系统 259